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单选题
环状伪影产生的原因是（ ）。
A
数据采样不当
B
部分容积效应
C
机械故障
D
射线束硬化
E
探测器通道故障
参考答案
参考解析
解析：
环状伪影是探测器通道故障所产生的，常见于第三代CT机。
环状伪影是探测器通道故障所产生的，常见于第三代CT机。
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考题
关于CT伪影的叙述，错误的是（）A、伪影在扫描和信息处理过程中产生B、数据采集系统故障可产生伪影C、探测器的采样频率与伪影无关D、缩短扫描时间可减少运动伪影E、严格控制机房工作环境可减少伪影
考题
关于部分容积效应的叙述，错误的是A、部分容积效应主要有两种现象：部分容积均化和部分容积伪影B、部分容积均化影响CT值的准确测量C、部分容积伪影产生于衰减差别过大的组织D、部分容积伪影最常见的现象是在头颅横断面扫描时颞部出现的条纹状伪影E、部分容积伪影与射线硬化作用无关
考题
多选题关于部分容积效应的描述，正确的是（）A是由于线束硬化造成的B螺旋扫描不存在部分容积效应C采用薄层扫描可以减小部分容积效应D因部分容积效应形成的伪影易出现在后颅凹，呈条纹状E部分容积效应会影响组织的CT值测量的准确性
考题
单选题关于CT伪影的叙述，错误的是（ ）。A
伪影在扫描和信息处理过程中产生B
数据采集系统故障可产生伪影C
探测器的采样频率与伪影无关D
缩短扫描时间可减少运动伪影E
严格控制机房工作环境可减少伪影
考题
单选题关于部分容积效应的叙述，错误的是（）A
部分容积效应主要有两种现象：部分容积均化和部分容积伪影B
部分容积均化影响CT值的准确测量C
部分容积伪影产生于衰减差别过大的组织D
部分容积伪影最常见的现象是在头颅横断面扫描时颞部出现的条纹状伪影E
部分容积伪影与射线硬化作用无关
考题
单选题关于CT图像伪影的叙述，错误的是（ ）。A
环状伪影：探测器通道故障B
放射状伪影：高密度物质或金属异物所致C
阴影状伪影：部分容积效应所致D
假皮层伪影：射线束硬化所致E
直线状伪影：CT采样频率较低所致
考题
单选题什么伪影表现为放射状？（ ）A
运动伪影B
金属伪影C
射线束硬化D
部分容积伪影E
噪声引起的伪影
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