考题
壁厚、板厚千分尺工作面的表面粗糙度Ra应不大于()。
A、0.04μmB、0.05μmC、0.10μm
考题
壁厚千分尺的结构与千分尺基本相同，其测砧测量面为（）。A、平面B、球面C、圆柱面D、曲面
考题
测量范围至1000mm的高度游标卡尺，其量爪测量面的平面度应不大于（）；底座工作面平面度应不大于（）。
考题
孔径千分尺的测微螺杆的螺距是（）。测微螺杆旋转一周，则三爪组成的园周半径位移（）。
考题
千分尺的测微螺杆，其轴向窜动量和径向摆动量应不大于（）A、0.005mmB、0.010mmC、0.020mm
考题
测量范围为25～50mm的千分尺测砧与测微螺杆工作面的相对偏移量应不大于0.1mm。
考题
使用千分尺测量零件前，应擦净测砧和测微螺杆端面并校准（）。
考题
在外径千分尺的检定过程中，量块不仅可以用来检定丝杆示值，还可以用来检定测砧和测微螺杆工作面的（）。
考题
外径千分尺是应用了（），借助测微螺杆与测微螺母的精密配合，将测微螺杆的旋转运动变成直线位移进行测量的。
考题
1级外径千分尺两测砧工作面的平面度公差为（）A、0.3μmB、0.6μmC、0.9μmD、1.0μm
考题
内径千分尺测头工作面的曲率半径应不大于其测量下限的（）。A、30%B、40%C、50%
考题
以技术光波干涉法检定深度千分尺基座工作面的平面度所用的2级平晶，其工作面的平面度不大于（）A、0.03umB、0.05umC、0.10um
考题
千分尺测微螺杆与测砧两轴线间偏差不能太大，否则会影响千分尺的准确度。
考题
千分尺测微螺杆的径向摆动如何检定（检定方法）？
考题
壁厚千分尺测微螺杆工作面的平面度应不大于（）。A、1umB、1.2umC、1.5um
考题
外径千分尺和校对量杆的工作面的表面粗糙洁度Ra应不大于（），壁厚和板厚千分尺工作面的Ra不大于（）。
考题
填空题在外径千分尺的检定过程中，量块不仅可以用来检定丝杆示值，还可以用来检定测砧和测微螺杆工作面的（）。
考题
单选题壁厚、板厚千分尺工作面的表面粗糙度Ra应不大于（）。A
0.04μmB
0.05μmC
0.10μm
考题
判断题测量范围为25～50mm的千分尺测砧与测微螺杆工作面的相对偏移量应不大于0.1mm。A
对B
错
考题
填空题外径千分尺是应用了（），借助测微螺杆与测微螺母的精密配合，将测微螺杆的旋转运动变成直线位移进行测量的。
考题
单选题千分尺的测微螺杆，其轴向窜动量和径向摆动量应不大于（）A
0.005mmB
0.010mmC
0.020mm
考题
填空题深度千分尺基座工作面的平面度不大于（）
考题
判断题千分尺测微螺杆与测砧两轴线间偏差不能太大，否则会影响千分尺的准确度。A
对B
错
考题
填空题外径千分尺和校对量杆的工作面的表面粗糙洁度Ra应不大于（），壁厚和板厚千分尺工作面的Ra不大于（）。
考题
填空题孔径千分尺的测微螺杆的螺距是（）。测微螺杆旋转一周，则三爪组成的园周半径位移（）。
