考题
使用外径千分尺时,当两测量面接触工件后,待()空转,发出“轧轧"声时,方可读出尺寸。
A、测力装置棘轮B、定位环C、微分筒D、测砧
考题
使用外径千分尺前,应先将校对量杆置于()和测微螺杆之间。
A、测力装置B、定位环C、测砧D、微分筒
考题
壁厚千分尺的结构与千分尺基本相同，其测砧测量面为（）。A、平面B、球面C、圆柱面D、曲面
考题
下列哪些结构是外径千分尺组成部分（）A、测砧B、内外测量爪C、测力装置D、隔热装置E、转数指针
考题
测量范围为25～50mm的千分尺测砧与测微螺杆工作面的相对偏移量应不大于0.1mm。
考题
外径千分尺的读数机构是由（）等部分组成的。A、固定测砧B、测力装置C、固定套管D、微分筒E、测微螺杆F、螺纹轴套
考题
两平行平面的平面度公差应等于或小于平行度公差的（）%。
考题
测量时，外径千分尺的（）和测量件直接接触。A、砧座和测微螺杆B、手柄和棘爪C、测微螺杆和棘爪D、微分筒和棘爪
考题
同一被测平面的平面度和平行度公差值之间的关系，一定是平面度公差值（）平行度公差值。A、等于B、大于C、小于D、大于或小于
考题
公法线千分尺用于测量齿轮的公法线长度，两个测砧的测量面做成相互垂直的圆平面。
考题
v型测砧千分尺是用于测量等分（）数槽零件外径尺寸的一伸待殊测微量具。
考题
V形测砧千分尺是用于测量等分奇数槽零件外径尺寸的一种特殊测微量具。
考题
以平面为基准时，无论被测要素是线还是面，其平行度公差都是距离为公差值t且平行于基准平面的两平行平面之间的区域。
考题
在外径千分尺的检定过程中，量块不仅可以用来检定丝杆示值，还可以用来检定测砧和测微螺杆工作面的（）。
考题
外径千分尺测砧工作面的表面粗糙度不得大于（）A、0.02μmB、0.03μmC、0.04μmD、0.05μm
考题
外径千分尺测砧工作面的表面粗糙度用（）检A、光洁度样板B、表面粗糙度比较样块C、比较仪D、放大镜
考题
如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
考题
千分尺测微螺杆与测砧两轴线间偏差不能太大，否则会影响千分尺的准确度。
考题
填空题在外径千分尺的检定过程中，量块不仅可以用来检定丝杆示值，还可以用来检定测砧和测微螺杆工作面的（）。
考题
判断题测量范围为25～50mm的千分尺测砧与测微螺杆工作面的相对偏移量应不大于0.1mm。A
对B
错
考题
单选题壁厚千分尺的结构与千分尺基本相同，其测砧测量面为（）。A
平面B
球面C
圆柱面D
曲面
考题
问答题如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
考题
单选题外径千分尺测砧工作面的表面粗糙度不得大于（）A
0.02μmB
0.03μmC
0.04μmD
0.05μm
考题
单选题1级外径千分尺两测砧工作面的平面度公差为（）A
0.3μmB
0.6μmC
0.9μmD
1.0μm
考题
判断题千分尺测微螺杆与测砧两轴线间偏差不能太大，否则会影响千分尺的准确度。A
对B
错
考题
判断题以平面为基准时，无论被测要素是线还是面，其平行度公差都是距离为公差值t且平行于基准平面的两平行平面之间的区域。A
对B
错
考题
单选题外径千分尺测砧工作面的表面粗糙度用（）检A
光洁度样板B
表面粗糙度比较样块C
比较仪D
放大镜
