考题
对饼形锻件,采用直探头作径向探测是最佳的探伤方法。()
此题为判断题(对，错)。
考题
锻件的晶粒比较细小，单晶直探头常采用频率2.5MHz~5MHz，双晶直探头常采用频率5MHz。
考题
长方体锻件最主要检测方向是（）。A、 直探头端面检测B、 直探头侧面检测C、 斜探头端面检测D、 直探头垂直的两端面检测
考题
对饼形锻件采用纵波直探头作径向探测是最佳的检测方法。
考题
在锻件直探头探伤时可能定不准近侧面缺陷的位置，其原因是（）A、侧面反射波带来干涉B、探头太大，无法移至边缘C、频率太高D、以上都不是
考题
不锈钢板中夹杂与分层的超声检验经常采用的方法有（）A、垂直探头B、双晶探头C、穿透法D、三种方法都用
考题
采用下列何种频率的直探头在不锈钢大锻件超探时，可获得较好的穿透能力：（）A、1.25MHzB、2.5MHzC、5MHzD、10MHz
考题
大锻件探伤时，通常采用直探头，其主要原因是（）A、锻造缺陷一般与锻造纤维方向平行B、探测面通常选择与锻造纤维方向平行的面C、锻件尺寸大，纵波探伤穿透力强D、以上三种原因都是
考题
对筒类锻件采用纵波直探头从端面检测主要发现与轴线平行的径向缺陷。
考题
碳钢和低合金钢锻件检测厚度小于45mm时，按照JB/T4730.3－2005标准，应采用（）检测。A、 纵波直探头B、 纵波斜探头C、 纵波双晶直探头D、 横波斜探头
考题
在锻件直探头探伤时可能定不准靠近侧壁的缺陷的位置，其原因是（）。A、探头太大，无法移至边缘B、侧壁反射波发生干涉C、频率太高D、以上都不是
考题
对饼形锻件，采用纵波直探头作径向探测是最佳检测方法
考题
对饼形锻件，采用直探头作径向探测是最佳的探伤方法。（）
考题
CSK-1A试块有机玻璃可测定（）。A、直探头盲区B、直探头穿透能力C、直探头盲区和穿透能力D、上述都不能测
考题
下列哪种探头可增大超声波在粗晶材料中的穿透能力（）。A、大直径高频率探头B、小直径高频探头C、大直径低频率探头D、以上A和B
考题
判断题锻件的晶粒比较细小，单晶直探头常采用频率2.5MHz~5MHz，双晶直探头常采用频率5MHz。A
对B
错
考题
单选题碳钢和低合金钢锻件检测厚度小于45mm时，按照JB/T4730.3－2005标准，应采用（）检测。A
纵波直探头B
纵波斜探头C
纵波双晶直探头D
横波斜探头
考题
单选题大锻件探伤时，通常采用直探头，其主要原因是（）A
锻造缺陷一般与锻造纤维方向平行B
探测面通常选择与锻造纤维方向平行的面C
锻件尺寸大，纵波探伤穿透力强D
以上三种原因都是
考题
单选题下列哪种探头可增大超声波在粗晶材料中的穿透能力（）。A
大直径高频率探头B
小直径高频探头C
大直径低频率探头D
以上A和B
考题
单选题采用下列何种频率的直探头对不锈钢大锻件进行超声探伤时可获得较好的穿透力？（）A
1.25MHzB
2.5MHzC
5MHzD
10MHz
考题
单选题CSK-1A试块有机玻璃可测定（）。A
直探头盲区B
直探头穿透能力C
直探头盲区和穿透能力D
上述都不能测
考题
判断题对饼形锻件，采用直探头作径向探测是最佳的探伤方法。A
对B
错
考题
单选题在锻件直探头探伤时可能定不准近侧面缺陷的位置，其原因是：（）A
侧面反射波带来干涉B
探头太大，无法移至边缘C
频率太高D
以上都不是
考题
判断题直探头在圆柱形轴类锻件外圆探伤时，发现的游动回波都是裂纹回波。A
对B
错
考题
单选题在锻件直探头探伤时可能定不准靠近侧壁的缺陷的位置，其原因是（）。A
探头太大，无法移至边缘B
侧壁反射波发生干涉C
频率太高D
以上都不是
考题
问答题大锻件为什么通常采用直探头进行超声波检测？
