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判断题
探测面与工件底面不平行时将导致底面回波消失。
A

B


参考答案

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考题 探测面与工件底面不平行时将导致底面回波消失。()此题为判断题(对,错)。

考题 当底面粗糙有水、油或当大平底底面与探测面不平行时,将使底面反射率降低,底波高度下降,这样调节的灵敏度会()。A.不变B.降低C.提高D.变化不确定

考题 探测面与工件底面不平行时( )。A.导致荧光屏图象中失去底面回波B.难以对平行于入射面的缺陷进行定位C.通常表示在金属中存在疏松状态D.减小试验的穿透力

考题 直探头纵波探伤时,工件上下表面不平行会产生()。A、底面回波降低或消失B、底面回波不降低C、底面回波变窄D、以上都不对

考题 在何种情况下,锻钢件超声波检测需要使用对比试块调节探测灵敏度?()A、厚度大于等于三倍近场长度,工件表面光洁度大于等于3.2μm,探测面与底面平行B、厚度大于等于三倍近场长度,工件表面粗糙,探测面与底面平行C、厚度小于等于三倍近场长度,工件表面粗糙,探测面与底面不平行

考题 斜入射横波法探测平板形试块时,探测回波中()A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波,底面回波消失D、缺陷回波和底面回波同时存在

考题 垂直探伤时,工件探测面与底面不平行,底波将()或()

考题 直探头探测厚100mm和400mm的两平底面锻件,若后者探测面粗糙,与前者耦合差为5db,材质衰减均为0.01Db/mm(双程),今将前者底面回波调至满幅(100%)高,则后者的底面回波应是满幅度的:()A、40%B、20%C、10%D、5%

考题 锻钢件大平底面与探测面不平行时,会产生:()A、无底面回波或底面回波降低B、难以发现平行探测面的缺陷C、声波穿透能力下降D、缺陷回波受底面回波影响

考题 轴类工件外圆面径向探伤时,曲底面的回波声压与同声程大平底面相同。

考题 直探头接触法探伤时,发现缺陷回波较低,且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈()。

考题 当底面粗糙有水、油或当大平底底面与探测面不平行时,将使底面反射率降低,底波高度下降,这样调节的灵敏度将会()。A、不变B、偏低C、偏高D、任意

考题 斜入射横波法探测平板形试件时,探测图形中()。A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波时底面回波消失D、有大型缺陷回波时有底面回波

考题 直探头纵波探伤时,工件上下表面不平行,会使底面回波变窄。

考题 探测面与工件底面不平行时将导致底面回波消失。

考题 探测面与工件底面不平行时()。A、导致荧光屏图象中失去底面回波B、难以对平行于入射面的缺陷进行定位C、通常表示在金属中存在疏松状态D、减小试验的穿透力

考题 单选题斜入射横波法探测平板形试件时,探测图形中()。A 没有底面回波B 有底面回波C 有大型缺陷回波时底面回波消失D 有大型缺陷回波时有底面回波

考题 单选题直探头纵波探伤时,工件上下表面不平行会产生()。A 底面回波降低或消失B 底面回波不降低C 底面回波变窄D 以上都不对

考题 单选题探测面与工件底面不平行时()A 导致荧光屏图像中失去底面回波B 难以对平行于入射面的缺陷进行定位C 通常表示在金属中存在疏松状态D 减小试验的穿透力

考题 判断题轴类工件外圆面径向探伤时,曲底面的回波声压与同声程大平底面相同。A 对B 错

考题 填空题垂直探伤时,工件探测面与底面不平行,底波将()或()

考题 单选题锻钢件大平底面与探测面不平行时,会产生:()A 无底面回波或底面回波降低B 难以发现平行探测面的缺陷C 声波穿透能力下降D 缺陷回波受底面回波影响

考题 单选题探测距离均为100mm的底面,用同样规格直探头以相同灵敏度探测时,下列哪种底面回波最高、()A 与探测面平行的大平底面B R200的凹圆柱底面C R200的凹球底面D R200的凸圆柱底面

考题 单选题当底面粗糙有水、油或当大平底底面与探测面不平行时,将使底面反射率降低,底波高度下降,这样调节的灵敏度将会()。A 不变B 偏低C 偏高D 任意

考题 单选题直探头探测厚100mm和400mm的两平底面锻件,若后者探测面粗糙,与前者耦合差为5db,材质衰减均为0.01Db/mm(双程),今将前者底面回波调至满幅(100%)高,则后者的底面回波应是满幅度的:()A 40%B 20%C 10%D 5%

考题 单选题斜入射横波法探测平板形试块时,探测回波中()A 没有底面回波B 有底面回波C 有大型缺陷回波,底面回波消失D 缺陷回波和底面回波同时存在

考题 单选题在何种情况下,锻钢件超声波检测需要使用对比试块调节探测灵敏度?()A 厚度大于等于三倍近场长度,工件表面光洁度大于等于3.2μm,探测面与底面平行B 厚度大于等于三倍近场长度,工件表面粗糙,探测面与底面平行C 厚度小于等于三倍近场长度,工件表面粗糙,探测面与底面不平行