考题
在超声波探伤中由于探头影响反射波高度的因素有()。A.探头型式B.晶片尺寸C.波束方向D.上述都有
考题
在超声波探伤中由于缺陷本身影响反射波高的因素有()。A.缺陷形状、取向和尺寸B.缺陷性质C.缺陷反射率D.上述都有
考题
在超声波探伤中由于耦合情况影响反射波高的因素有()。A.耦合剂特性B.耦合层厚度C.温度及界面反射率D.上述都有
考题
在超声波探伤中由于仪器影响反射波高的因素是()。A.水平线性B.垂直线性C.发射功率D.上述都有
考题
A型显示的示波屏上的水平基线表示（）。A、超声波反射能量的大小B、探头的移动距离C、超声波传播的时间或距离D、反射波的垂直高度
考题
超声波探伤时，影响缺陷反射波波高的因素有哪些？
考题
利用A型脉冲反射式超声波探伤仪对缺陷定位时，影响缺陷定位的主要因素有（）。A、仪器和探头B、操作人员的影响C、工件的影响D、耦合剂的影响
考题
在直探头探伤过程中，引起底波高度明显下降或消失的因素有（）。A、探头接触不良B、遇到材质衰减大的部位C、工件底面不平或工件内部有缺陷D、以上都对
考题
进行超声波探伤时，随着探头的移动，探伤仪的荧光屏上会有各种波形出现，包括始波、轮毂内表面的反射波、轮座和轮毂连接处夹杂物的反射波等。
考题
在中薄板的直探头多次反射法探伤中，由于多次反射之间的叠加作用，致使小缺陷多次反射回波高度常常是第二次要比第一次高
考题
超声波探伤时要求探头主声束覆盖探测部位全长，探伤时探头移动快，主声束对探测部位的覆盖不全面，而且反射波不明显，容易漏探。
考题
在超声波探伤中由于缺陷本身影响反射波高的因素有（）A、缺陷形状、取向和尺寸B、缺陷性质C、缺陷反射率D、上述都有
考题
在超声波探伤中由于耦合情况影响反射波高的因素有（）A、耦合剂特性B、耦合层厚度C、温度及界面反射率D、上述都有
考题
在超声波探伤中由于仪器影响反射波高的因素是（）A、水平线性B、垂直线性C、发射功率D、上述都有
考题
在超声波探伤中，缺陷自身影响缺陷回波高度的因素有哪些？
考题
在超声波探伤中，缺陷的形状对缺陷反射波的高度有什么影响？
考题
在直探头探伤中，当扩散声束射到侧面上时，产生波的反射，并引起（）。
考题
在超声波探伤中，缺陷的表面状态对缺陷反射波的高度有什么影响？
考题
在超声波探伤中由于探头影响反射波高度的因素有（）A、探头型式B、晶片尺寸C、波束方向D、上述都有
考题
单选题在超声波探伤中由于耦合情况影响反射波高的因素有（）A
耦合剂特性B
耦合层厚度C
温度及界面反射率D
上述都有
考题
问答题在超声波探伤中，缺陷的表面状态对缺陷反射波的高度有什么影响？
考题
单选题在超声波探伤中由于仪器影响反射波高的因素是（）A
水平线性B
垂直线性C
发射功率D
上述都有
考题
单选题在超声波探伤中由于缺陷本身影响反射波高的因素有（）A
缺陷形状、取向和尺寸B
缺陷性质C
缺陷反射率D
上述都有
考题
问答题在超声波探伤中，缺陷的方向对缺陷反射波的高度有什么影响？
考题
问答题在超声波探伤中，缺陷自身影响缺陷回波高度的因素有哪些？
考题
单选题利用A型脉冲反射式超声波探伤仪对缺陷定位时，影响缺陷定位的主要因素有（）。A
仪器和探头B
操作人员的影响C
工件的影响D
耦合剂的影响
考题
问答题超声波探伤时，影响缺陷反射波波高的因素有哪些？
