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在中薄板的直探头多次反射法探伤中,由于多次反射之间的叠加作用,致使小缺陷多次反射回波高度常常是第二次要比第一次高


参考答案

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考题 超声波探伤中,没有探测盲区的探伤方法是( )。A、反射法B、穿透法C、底面多次回波法D、底面一次回波反射法法

考题 以下指出混响产生的条件最准确的是A、超声投射到肺表面,引起多次反射(也称气体反射)B、超声投射到腹壁和肠管界面,引起多次反射(也称气体反射)C、超声垂直投射到平整界面,超声在探头和界面之间来回反射(引起多次反射)D、超声垂直投射到肺表面,引起多次反射(也称气体反射)E、超声垂直投射到腹壁表面,引起多次反射(也称气体反射)

考题 以下哪种方法不属于纵波直探头法()A、单晶直探头脉冲反射法B、双晶直探头脉冲反射法C、多晶直探头脉冲反射法D、穿透法

考题 在脉冲反射法探伤中判断缺陷存在的根据有()A、缺陷回波B、底波或参考回波的减弱或消失C、接收探头接收到的能量的减弱D、接收探头接收到的能量的增强

考题 在厚焊缝单探头探伤中,垂直焊缝的表面的光滑的裂纹可能:()A、用45°斜探头探出B、用直探头探出C、用任何探头探出D、反射讯号很小而导致漏检

考题 采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度?()A、直探头探伤法B、脉冲反射法C、斜探头探伤法D、穿透法

考题 若用直探头反射法探测厚铸件,为降低粗晶草状回波干扰,可采取()A、采用低频直探头,分层调整探伤灵敏度B、转换为横波探伤C、用水做耦合剂D、不加耦合剂

考题 在中薄板的直探头多次反射法探伤中,由于多次反射之间的()作用,使小缺陷多次反射回波高度常常是第一次要比第二次偏低。A、干涉B、叠加C、衍射D、驻波

考题 论述超声波直探头利用多次脉冲反射法识别缺陷的方法。

考题 从超声波近场声压不规则的角度考虑,脉冲反射法不适宜薄板探伤。

考题 在探头扫查中,把A型显示图形进行连续的多次叠加的显示方法称为()型显示。A、MAB、MBC、MCD、MD

考题 中等厚度钢板直探头多次反射法探伤,缺陷位于()时,缺陷回波之间会发生迭加效应。

考题 较薄钢板采用底波多次法探伤时,如出现“叠加效应”,说明钢板中缺陷尺寸一定很大。

考题 指出混响产生的条件哪项最准确()。A、超声投射到肺表面,引起多次反射(也称气体反射)B、超声投射到腹壁和肠管界面,引起多次反射(也称气体反射)C、超声垂直投射到平整界面,超声在探头和界面之间来回反射(引起多次反射)D、超声垂直投射到肺表面,引起多次反射(也称气体反射)E、超声垂直投射到腹壁表面,引起多次反射(也称气体反射)

考题 带有斜楔的探头可用于()。A、双晶片垂直法探伤B、斜射法探伤C、纵波垂直法探伤D、反射法探伤

考题 在直探头探伤中,当扩散声束射到侧面上时,产生波的反射,并引起()。

考题 在超声波探伤中由于探头影响反射波高度的因素有()A、探头型式B、晶片尺寸C、波束方向D、上述都有

考题 多次脉冲反射法,不能用来判断工件中缺陷的严重程度。

考题 单选题在探头扫查中,把A型显示图形进行连续的多次叠加的显示方法称为()型显示。A MAB MBC MCD MD

考题 单选题若用直探头反射法探测厚铸件,为降低粗晶草状回波干扰,可采取()A 采用低频直探头,分层调整探伤灵敏度B 转换为横波探伤C 用水做耦合剂D 不加耦合剂

考题 填空题中等厚度钢板直探头多次反射法探伤,缺陷位于()时,缺陷回波之间会发生迭加效应。

考题 单选题超声波探伤中,没有探测盲区的探伤方法是()A 反射法B 穿透法C 底面多次回波法D 底面一次回波反射法法

考题 判断题当钢板中缺陷大于声束截面时,由于缺陷多次反射波互相干涉容易出现“叠加效应”。A 对B 错

考题 单选题以下哪种方法不属于纵波直探头法()A 单晶直探头脉冲反射法B 双晶直探头脉冲反射法C 多晶直探头脉冲反射法D 穿透法

考题 单选题带有斜楔的探头可用于()。A 双晶片垂直法探伤B 斜射法探伤C 纵波垂直法探伤D 反射法探伤

考题 单选题采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度()A 直探头探伤法B 脉冲反射法C 斜探头探伤法D 穿透法

考题 问答题简述超声波直探头利用多次脉冲反射法识别缺陷的方法。