考题
THDS-A（哈科所）系统热靶标定曲线横坐标为热靶温度。
考题
THDS-A（哈科所）探测站造成探头输出幅值低的原因有（）。A、探头故障B、探头电缆接触不良C、板温读取错误D、热靶温度读取错误E、环温读取错误
考题
在THDS-A设备（哈科所）探测站中，靶温可代表（）。A、环温B、保护门温度C、热靶温度D、以上都不对
考题
THDS-A（哈科所）探测站探头箱中的温度转换盒可完成（）的温度信号转换。A、热靶B、探头C、轴箱D、板温E、环温
考题
THDS-A（哈科所）系统，如果报元件温度故障，可能是热靶故障。
考题
THDS-A（哈科所）系统，双侧元件温度接近环温时，可能是探头温控板造成的。
考题
THDS-A（哈科所）设备板温变化超过（）系统要自动进行热靶标定。A、±4℃B、±1℃C、±2℃D、±0.5℃
考题
（康拓）THDS-A系统光子探头器件温度正常值范围是（环温-50）±15℃。
考题
THDS-A（哈科所）系统，板温传感器断线时对探测的列车轴温有影响。
考题
THDS-A（哈科所）系统，探头插头松动会造成元件温度异常，无法正常采集信号。
考题
THDS-A（哈科所）系统，板温传感器电缆断路，造成环温显示-50度，可能与板温转换盒有关。
考题
THDS-A（哈科所）探测站中使用PT1000温度传感器做为测温元件的有（）。A、板温B、环温C、靶温D、光子元温E、制冷温度
考题
THDS-A（哈科所）系统如果报热敏探头板温故障，现象是板温与正常值偏离较大，可能是温度转换盒故障。
考题
（哈科）THDS-C系统环温传感器铂电阻PT100使用+18V供电。
考题
THDS-A（哈科所）系统中热靶标定数据中，板温至少应比热靶温度的低大约20℃。
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头的制冷电流最大值为0.95A，制冷电流过高或过低会影响器件制冷温度的深度。
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站中使用PT1000温度传感器做为测温元件的有（）。A板温B环温C靶温D光子元温E制冷温度
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头的制冷电流最大值为0.95A，制冷电流过高或过低会影响器件制冷温度的深度。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，双侧元件温度接近环温时，可能是探头温控板造成的。A
对B
错
考题
单选题在THDS-A设备（哈科所）探测站中，元温可代表（）。A
环温B
热靶温度C
探头内部温度D
以上都不对
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，板温传感器电缆断路，造成环温显示-50度，可能与板温转换盒有关。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，当设备环温器件PT100采集的温度比实际环境温度高出很多时，设备探测的列车轴温温升就偏低，容易造成热轴等级降低。A
对B
错
考题
判断题（哈科）THDS-C系统环温传感器铂电阻PT100使用+18V供电。A
对B
错
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站探头箱中的温度转换盒可完成（）的温度信号转换。A热靶B探头C轴箱D板温E环温
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统中热靶标定数据中，板温至少应比热靶温度的低大约20℃。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，探头插头松动会造成元件温度异常，无法正常采集信号。A
对B
错
考题
单选题THDS-A（哈科所）设备板温变化超过（）系统要自动进行热靶标定。A
±4℃B
±1℃C
±2℃D
±0.5℃
