考题
在下列方法中，适合于粗晶材料探伤的是（）A、采用大直径、低频、纵波、窄脉冲探头探伤B、将接触法探伤改为液浸法探伤C、采用小直径探头探伤D、以上都是
考题
用平探头对曲面工件接触法探伤时，探伤面曲率越大，耦合效果（）。
考题
在超声波探伤中，双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？
考题
垂直探伤时，工件探测面与底面不平行，底波将（）或（）
考题
直探头接触法探伤时，发现缺陷回波较低，且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈（）。
考题
在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。
考题
采用接触法超探，探测近距离（或小直径）工件时，为获得较大声场范围，可选用（）直径的晶片。
考题
接触法超声波探伤，探测距离较大时，为获得较为集中的能量，应选用（）直径晶片的探头。
考题
接触法超声波探伤，当耦合层的厚度为λ/4的奇数倍时，透声效果（）。
考题
接触法超声波探伤，对大于声束直径的缺陷，可采用（）法或叫半波高度法测定其大小。
考题
接触法超声波探伤，用底波高度法调整灵敏度时可不考虑耦合差，但是对厚工件深部位的缺陷应进行（）补偿。
考题
探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法，称为（）。A、斜射法B、水浸法C、接触法D、穿透法
考题
采用接触法超探，探测距离大时，为获得较集中的能量，应选用（）直径的晶片。
考题
在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为（）。A、直射B、扫查C、反射D、折射
考题
填空题接触法超声波探伤，当耦合层的厚度为λ/4的奇数倍时，透声效果（）。
考题
问答题在超声波探伤中，双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？
考题
填空题采用接触法超探，探测近距离（或小直径）工件时，为获得较大声场范围，可选用（）直径的晶片。
考题
填空题接触法超声波探伤，对大于声束直径的缺陷，可采用（）法或叫半波高度法测定其大小。
考题
填空题接触法超声波探伤，探测距离较大时，为获得较为集中的能量，应选用（）直径晶片的探头。
考题
填空题采用接触法超探，探测距离大时，为获得较集中的能量，应选用（）直径的晶片。
考题
单选题探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法，称为（）。A
斜射法B
水浸法C
接触法D
穿透法
考题
判断题在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。A
对B
错
考题
填空题接触法超声波探伤，用底波高度法调整灵敏度时可不考虑耦合差，但是对厚工件深部位的缺陷应进行（）补偿。
考题
填空题接触法超声波探伤，探测近距离（或小直径）工件时，为获得较大声场范围，可选用（）直径晶片的探头。