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大于波束截面的缺陷大小一般用()表示。

  • A、当量
  • B、延伸度
  • C、F/BG

参考答案

更多 “大于波束截面的缺陷大小一般用()表示。A、当量B、延伸度C、F/BG” 相关考题
考题 缺陷大小大于波束截面积时,一般用()。 A、延伸度法B、当量法C、声压比法D、以底波为基准的百分比法

考题 下列尺寸和深度都相同的缺陷,在相同探伤灵敏度下探测,回波最高的是() A、最大表面与波束轴线呈75°角且平滑的缺陷B、最大表面与波束轴线呈75°角且粗糙的缺陷C、最大表面与波束轴线呈90°角且平滑的缺陷D、最大表面与波束轴线相垂直且粗糙的缺陷

考题 A.1-1截面有轴力和弯矩,2-2截面有轴力、弯矩和剪力 B.1-1截面的轴力大于2-2截面的轴力 C.1-1截面的弯矩等于2-2截面的弯矩 D.2-2截面左侧受压、右侧受拉

考题 齿面的表面粗糙度值要求较小,一般用()表示,也可用Ra表示。A、RyB、RxC、Rb

考题 在锻件检测中,对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用半波高度法测定缺陷的指示长度或面积。

考题 超声检测的单探头法难以检出的缺陷是  ()。A、 与波束轴线垂直的片状缺陷B、 立体型缺陷C、 与波束轴线平行的片状缺陷D、 A和B

考题 电流的大小用()通过导体截面的电荷来表示。

考题 在锻件检测中,对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用当量法定量。

考题 每秒钟通过导线某一截面的电荷量(电量)的多少来衡量电流的强弱,称为(),用符号I表示。

考题 用任何方法作超声探伤时,为有效地检测缺陷应使()。A、超声波束尽可能地与缺陷最大表面垂直B、超声波束与缺陷最大表面平行C、底面回波次数尽可能地多D、超声波束与试件底面垂直

考题 缺陷反射声压的大小取决于()A、缺陷反射面的大小B、缺陷性质C、缺陷取向D、上述三者

考题 ()应用延伸度法对缺陷进行定量.A、大于声束截面的缺陷B、小于声束截面的缺陷C、点状缺陷D、平面型缺陷

考题 我们通常用垂直平面及水平平面上表示天线不同方向辐射()电磁波功率大小的曲线来表示天线的方向性,并称为()。同时用()之间的夹角表示了天线方向图中的水平波束宽度及垂直波束宽度。

考题 用任何方法作超声波探伤时,为有效地检出缺陷,应使超声波束与缺陷最大表面平行。

考题 用直探头探伤,当缺陷小于声束截面时,一般采用()定量;当缺陷大于声束截面时,一般采用()或()定量。

考题 一次雷达天线波束形状一般用水平面和垂直面的()来表示。A、波束方向B、波束宽度C、波束长度D、波束角度

考题 超声波检测法检测构件损伤是利用超声振动能在介质中定向穿透传播的原理。()A、用纵波易于检测工件表面及近表面的缺陷。用横波易于检测大厚度构件的内部缺陷。B、超声波的波束遇到工件中的缺陷会被吸收形成一个伤波。C、超声波的波束遇到工件中的缺陷会被反射形成一个伤波。D、不能发现中等或严重的腐蚀损伤,因为介质分界面发生的反射波太强。

考题 一次雷达天线水平波束要求为()。A、3dB水平波束宽度不应大于1.45°±0.05°B、3dB水平波束宽度不应大于2.45°±0.05°C、3dB水平波束宽度不应大于3.2°±0.2°D、3dB水平波束宽度不应大于5°±0.2°

考题 单选题大于波束截面的缺陷大小一般用()表示。A 当量B 延伸度C F/BG

考题 填空题用直探头探伤,当缺陷小于声束截面时,一般采用()定量;当缺陷大于声束截面时,一般采用()或()定量。

考题 单选题缺陷反射声压的大小取决于()A 缺陷反射面的大小B 缺陷性质C 缺陷取向D 上述三者

考题 单选题用任何方法作超声探伤时,为有效地检测缺陷应使()。A 超声波束尽可能地与缺陷最大表面垂直B 超声波束与缺陷最大表面平行C 底面回波次数尽可能地多D 超声波束与试件底面垂直

考题 判断题在锻件检测中,对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用当量法定量。A 对B 错

考题 判断题用任何方法作超声波探伤时,为有效地检出缺陷,应使超声波束与缺陷最大表面平行。A 对B 错

考题 填空题每秒钟通过导线某一截面的电荷量(电量)的多少来衡量电流的强弱,称为(),用符号I表示。

考题 单选题超声检测的单探头法难以检出的缺陷是  ()。A  与波束轴线垂直的片状缺陷B  立体型缺陷C  与波束轴线平行的片状缺陷D  A和B

考题 判断题在锻件检测中,对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用半波高度法测定缺陷的指示长度或面积。A 对B 错