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红外热成像检测发现缺陷时，若是由两种或两种以上因素引起的，应综合判断缺陷性质。对于磁场和漏磁引起的过热可依据电压致热型设备的判据进行处理。
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参考解析
解析：
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考题
红外热像检测中，对于危急缺陷的相关描述，正确的是（）。指设备最高温度超过GB/T11022规定的最高允许温度的缺陷$;$这类缺陷应立即安排处理$;$对电流致热型设备，应采取必要的措施，如加强检测等，必要时降低负荷电流$;$对电压致热型设备，当缺陷明显时，应立即消缺或退出运行，如有必要，可安排其他试验手段，进一步确定缺陷性质
考题
红外热像检测中检测数据分析与处理时，对不同类型的设备采用相应的（）和（），并由热像特点进一步分析设备的缺陷特征，判断出设备的缺陷类型(A)判断规则 (B)判断方法 (C)判断标准 (D)判断依据
考题
红外热像检测中，对于一般缺陷的相关描述，正确的是（）。(A)指设备存在过热，有一定温差，温度场有一定梯度，但不会引起事故的缺陷 (B)一般要求记录在案，注意观察其缺陷的发展，利用停电机会检修，有计划地安排试验检修消缺 (C)当发热点温升值小于10K时，不宜采用附录D的规定确定设备缺陷的性质 (D)电压致热型设备的缺陷一般定为一般及以上的缺陷
考题
《红外热像检测细则》中规定，当缺陷是由两种或两种以上因素引起的，应综合判断缺陷性质。对于（）引起的过热可依据电流致热型设备的判据进行处理。(A)磁场 (B)剩磁 (C)漏磁 (D)偏磁
考题
红外热像检测中，以下对于电流致热型危机缺陷处理方法正确的是（）。利用停电机会检修，有计划地安排试验检修消除缺陷$;$加强检测，必要时降低负荷电流$;$尽快安排处理$;$应立即降低负荷电流或立即消缺
考题
红外热像检测中，对于严重缺陷的相关描述，正确的是（）。A、指设备存在过热，程度较重，温度场分布梯度较大，温差较大的缺陷B、这类缺陷应立即安排处理C、对电流致热型设备，应采取必要的措施，如加强检测等，必要时降低负荷电流D、电压致热型设备的缺陷一般定为严重及以上的缺陷
考题
红外热像检测表面温度判断法主要适用于电压致热型；综合致热型引起发热的设备。
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