考题
空白试验可以消除由于试剂不纯而引起的误差。()
此题为判断题(对，错)。
考题
克服某些试剂不稳定引起的误差可以采用A．双波长法和双试剂两点法B．单试剂法和双试剂两点法C．双试剂单波长一点法和单试剂法D．双试剂两点法和双波长法E．双试剂单波长一点法和双试剂两点法
考题
克服某些试剂不稳定引起的误差可以采用A、单试剂法B、单波长法C、双波长法D、双试剂单波长一点法E、双试剂两点法
考题
仪器和试剂引起的分析误差属于有某些恒定因素影响而出现的系统误差。()
此题为判断题(对，错)。
考题
在测定过程中,由试剂所引起的误差属于()。
A、方法误差B、试剂误差C、操作误差D、仪器误差
考题
克服某些试剂不稳定引起韵误差可以采用A．双波长法和双试剂两点法B．单试剂法和双试剂两点法C．双试剂单波长一点法和单试剂法D．双试剂两点法和双波长法E．双试剂单波长一点法和双试剂两点法
考题
试剂中含有微量组分会引起( )。A.方法误差B.偶然误差C.过失误差D.试剂误差
考题
为保证试验的准确性、克服某些试剂不稳定引起的误差可采用A.单波长一点法B.双试剂单波长一点法、双试剂两点法C.单波长法D.单试剂单波长一点法E.双波长法
考题
因变质的校准液引起的误差属于A:偶然误差中的标本处理不当误差B:系统误差中的试剂误差C:系统误差中的方法学误差D:工作曲线制备误差E:偶然误差中的试剂误差
考题
仪器和试剂引起的分析误差，属于由某些恒定因素影响而出现的系统误差。
考题
操作失误引起的误差称为（）。A、过失误差B、系统误差C、偶然误差D、操作误差E、试剂误差
考题
空白试验可以消除由试剂、器皿等引入杂质所引起的系统误差。
考题
空白试验可以消除试剂和器皿杂质引起的系统误差。（）
考题
以下哪些原因引起的误差无法通过多做平行试验进行克服（）A、试剂不纯B、天平不准C、室温波动D、方法本身的不足E、操作的偶然失误
考题
以下哪种原因引起的误差可通过多做平行试验进行克服（）A、试剂不纯B、天平不准C、室温波动D、方法本身的不足
考题
操作失误引起的误差（）。A、系统误差B、操作误差C、偶然误差D、过失误差E、试剂误差
考题
克服某些试剂不稳定引起的误差可以采用（）A、双波长法B、单试剂法C、双试剂单波长一点法D、双试剂两点法E、终点法
考题
采用空白试验可以消除试剂和器皿带来杂质的系统误差
考题
由试剂不纯引起的误差属于（）。A、系统误差；B、偶然误差；C、过失误差；D、随机误差。
考题
下列误差属于偶然误差的是（）。A、外界条件的变化而引起的误差B、操作误差C、试剂误差D、仪器误差
考题
由于试剂不纯引起的误差是（）。A、偶然误差B、系统误差C、过失误差D、或然误差
考题
试剂中含有微量组分会引起（）A、方法误差B、偶然误差C、过失误差D、试剂误差
考题
内标法是仪器分析校正方法之一，该方法可以克服或减少仪器或方法的不足等引起的随机误差或系统误差。
考题
对偶然误差的描述下列正确的是（）。A、偶然误差是由方法误差引起的B、试剂纯度不够高可以导致偶然误差C、偶然误差可以通过合适的手段进行测量D、偶然误差决定测定结果的精密度
考题
单选题以下哪种原因引起的误差可通过多做平行试验进行克服（）A
试剂不纯B
天平不准C
室温波动D
方法本身的不足
考题
多选题克服某些试剂不稳定引起的误差可以采用（）A双波长法B单试剂法C双试剂单波长一点法D双试剂两点法E终点法
考题
多选题以下哪些原因引起的误差无法通过多做平行试验进行克服（）A试剂不纯B天平不准C室温波动D方法本身的不足E操作的偶然失误
考题
多选题克服某些试剂不稳定引起的误差可以采用（ ）A双试剂单波长一点法B双试剂两点法C双波长法D单试剂法E单波长法
