考题
THDS-A轴温探测系统中可以通过加热升高的温度信号是（）A、环境温度B、热靶温度C、器件温度D、调制盘温度
考题
THDS-A（哈科所）探测站造成探头输出幅值低的原因有（）。A、探头故障B、探头电缆接触不良C、板温读取错误D、热靶温度读取错误E、环温读取错误
考题
在THDS-A设备（哈科所）探测站中，靶温可代表（）。A、环温B、保护门温度C、热靶温度D、以上都不对
考题
THDS-A红外轴温探测系统测温板对下列（）测量A、调制盘温度B、器件温度C、车轴温度D、热靶温度E、环境温度
考题
THDS-A（哈科所）探测站探头箱中的温度转换盒可完成（）的温度信号转换。A、热靶B、探头C、轴箱D、板温E、环温
考题
THDS-A红外轴温探测系统光子探头器件温度正常值范围是（）。A、（环温-50）±15℃B、（环温-50）±20℃C、（环温-50）±25℃D、（环温-50）±30℃
考题
THDS-A（哈科所）系统，双侧元件温度接近环温时，可能是探头温控板造成的。
考题
THDS-A（哈科所）系统，当设备环温器件PT100采集的温度比实际环境温度高出很多时，设备探测的列车轴温温升就偏低，容易造成热轴等级降低。
考题
THDS-A（哈科所）探测站室外设备由红外轴温扫描器、卡轨器、过轨管组件、（）、环温箱、分线箱。A、控制箱B、车轮传感器C、电源箱D、UPS不间断电源
考题
THDS-A（哈科所）探测站，光子探头板温异常产生的后果（）。A、探头出现问题B、无法正确测曲线C、环温出现异常D、影响轴温测温精度E、不影响轴温测温精度
考题
THDS-A（哈科所）系统，板温传感器断线时对探测的列车轴温有影响。
考题
THDS-A轴温探测系统中用于校零的温度信号是（）A、环境温度B、器件温度C、挡板温度D、调制盘温度
考题
THDS-A（哈科所）系统，板温传感器电缆断路，造成环温显示-50度，可能与板温转换盒有关。
考题
THDS-A红外轴温探测系统测温板不对下列（）测量。A、调制盘温度B、器件温度C、车轴温度D、热靶温度
考题
THDS-A红外轴温探测系统中环温传感器的型号是PT100。
考题
THDS-A（哈科所）探测站中使用PT1000温度传感器做为测温元件的有（）。A、板温B、环温C、靶温D、光子元温E、制冷温度
考题
THDS-A（哈科所）探测站室外设备主要由（）等部分组成。A、红外轴温扫描器B、卡轨器C、车轮传感器D、环境温度传感器E、过轨管组件
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，板温传感器断线时对探测的列车轴温有影响。A
对B
错
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站中使用PT1000温度传感器做为测温元件的有（）。A板温B环温C靶温D光子元温E制冷温度
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站室外设备主要由（）等部分组成。A红外轴温扫描器B卡轨器C车轮传感器D环境温度传感器E过轨管组件
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，双侧元件温度接近环温时，可能是探头温控板造成的。A
对B
错
考题
单选题在THDS-A设备（哈科所）探测站中，元温可代表（）。A
环温B
热靶温度C
探头内部温度D
以上都不对
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，当设备环温器件PT100采集的温度比实际环境温度高出很多时，设备探测的列车轴温温升就偏低，容易造成热轴等级降低。A
对B
错
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统测温板不对下列（）测量。A
调制盘温度B
器件温度C
车轴温度D
热靶温度
考题
多选题THDS-A红外轴温探测系统测温板对下列（）测量A调制盘温度B器件温度C车轴温度D热靶温度E环境温度
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站造成探头输出幅值低的原因有（）。A探头故障B探头电缆接触不良C板温读取错误D热靶温度读取错误E环温读取错误
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站探头箱中的温度转换盒可完成（）的温度信号转换。A热靶B探头C轴箱D板温E环温
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统光子探头器件温度正常值范围是（）。A
（环温-50）±15℃B
（环温-50）±20℃C
（环温-50）±25℃D
（环温-50）±30℃
