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判断题
探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法,称为斜射法。
A

B


参考答案

参考解析
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考题 晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为()A.垂直法B.斜射法C.表面波法D.K型扫查

考题 探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法,称为斜射法。()此题为判断题(对,错)。

考题 用直探头直接接触于钢板,对厚度方向进行超声波垂直法探伤,它最易检出的是() A、最大表面与轧制面平行的分层缺陷B、最大表面与轧制面垂直的横向缺陷C、最大表面与轧制面倾斜的缺陷D、上述都不对

考题 探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法是() A、斜射法B、水浸法C、接触法D、穿透法

考题 带有塑料斜楔的探头可用于:()A、双晶片垂直法探伤B、斜射法探伤C、纵波垂直法探伤D、上述三者都可

考题 采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度?()A、直探头探伤法B、脉冲反射法C、斜探头探伤法D、穿透法

考题 晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面进入探测材料的检验方法称为()A、直射法B、斜射法C、表面波法D、上述三种都不对

考题 晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为()A、垂直法B、斜射法C、表面波法

考题 探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法,称为斜射法。

考题 超声波从探头的压电晶片到工件表面的距离称为()。

考题 芯片表面与被检材料表面不平行的超声波探伤称为()。A、液浸探伤法B、斜角探伤法C、接触探伤法D、穿透探伤法

考题 用直探头直接接触于钢板,对厚度方向进行超声波垂直法探伤,它最易检出的是()。A、最大表面与轧制面平行的分层缺陷B、最大表面与轧制面垂直的横向缺陷C、最大表面与轧制面倾斜的缺陷D、与探测面倾斜20°的缺陷

考题 探伤不锈钢零件表面缺陷最好采用()探伤法。A、射线照相B、磁粉探伤法C、超声波直探头D、渗透探伤法E、涡流探伤法

考题 探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法,称为()。A、斜射法B、水浸法C、接触法D、穿透法

考题 只用一个晶片兼作发射和接收超声波的探伤方法称单探头法探伤。

考题 带有斜楔的探头可用于()。A、双晶片垂直法探伤B、斜射法探伤C、纵波垂直法探伤D、反射法探伤

考题 超声波探伤,检验近表面缺陷,最有效的探头形式是()探头。

考题 脉冲反射法超声波探伤,对与声束轴线不垂直的缺陷,容易()。

考题 焊缝超声波探伤,主要用()探伤法。A、纵波斜探头B、纵波直探头C、横波斜探头D、横波直探头

考题 单选题芯片表面与被检材料表面不平行的超声波探伤称为()。A 液浸探伤法B 斜角探伤法C 接触探伤法D 穿透探伤法

考题 单选题带有塑料斜楔的探头可用于:()A 双晶片垂直法探伤B 斜射法探伤C 纵波垂直法探伤D 上述三者都可

考题 单选题晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面进入探测材料的检验方法称为()A 直射法B 斜射法C 表面波法D 上述三种都不对

考题 单选题带有斜楔的探头可用于()。A 双晶片垂直法探伤B 斜射法探伤C 纵波垂直法探伤D 反射法探伤

考题 单选题晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为()A 垂直法B 斜射法C 表面波法

考题 单选题采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度()A 直探头探伤法B 脉冲反射法C 斜探头探伤法D 穿透法

考题 单选题探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法,称为()。A 斜射法B 水浸法C 接触法D 穿透法

考题 单选题用直探头直接接触于钢板,对厚度方向进行超声波垂直法探伤,它最易检出的是()。A 最大表面与轧制面平行的分层缺陷B 最大表面与轧制面垂直的横向缺陷C 最大表面与轧制面倾斜的缺陷D 与探测面倾斜20°的缺陷