考题
在用BEPT向LKD1－T型车站列控中心LEU数据写入时,提示“PROGRAMMINGSUCCESSFUL”说明()。
A、写入失败B、写入成功C、正在写入D、系统自检通过
考题
中继站列控中心LEU设备配置在（）中，车站列控中心的LEU设备配置在列控综合柜或LEU柜内。
考题
当LKD1-T车站列控中心双CPU比较不一致时系统（），双机切换。
考题
LKD1－T型车站列控中心设备主要适用的范围是什么？
考题
车站列控中心系统设备、LEU和列控车载设备大修（更改）周期为（）年。
考题
车站列控中心系统设备、LEU和列控车载设备大修（更改）周期为（）年。A、5B、10C、15D、20
考题
LKD1-T车站列控中心按“（）”原则设计。
考题
LKD1-T车站列控中心设备中配置的LEU为双（）结构。
考题
车站列控中心系统设备，LEU和车载设备的大修周期为10年
考题
列控中心系统配置的LEU为双冗余系统，即2台LEU同时使用
考题
当LKD1-T车站列控中心与LEU通信中断时自动由LEU向（）同时发送最限制的接车进路报文。
考题
为了提高与LEU.计算机联锁.CTC（TDCS）系统通信通道的可靠性，LKD1-T车站列控中心与上述系统均采用双（）连接。
考题
车站列控中心系统设备、LEU和列控车载设备大修（更改）周期为15年。
考题
LKD1-T型车站列控中心设备响应时间不超过1s。
考题
在用BEPT向LKD1-T型车站列控中心LEU数据写入直至结束，大约需要（）。A、3minB、5minC、8minD、10min
考题
列控地面车站列控中心，轨旁电子单元LEU和有源（无源）应答器等设备组成。
考题
LKD1-T车站列控中心向（）系统发送的信息包括列控中心状态、LEU、应答器状态。
考题
判断题车站列控中心系统设备，LEU和车载设备的大修周期为10年A
对B
错
考题
单选题车站列控中心系统设备、LEU和列控车载设备大修（更改）周期为（）年。A
5B
10C
15D
20
考题
问答题LKD1－T型车站列控中心设备主要适用的范围是什么？
考题
填空题当LKD1-T车站列控中心与LEU通信中断时自动由LEU向（）同时发送最限制的接车进路报文。
考题
判断题列控中心系统配置的LEU为双冗余系统，即2台LEU同时使用A
对B
错
考题
填空题车站列控中心系统设备、LEU和列控车载设备大修（更改）周期为（）年。
考题
填空题中继站列控中心LEU设备配置在（）中，车站列控中心的LEU设备配置在列控综合柜或LEU柜内。
考题
填空题LKD1-T车站列控中心向（）系统发送的信息包括列控中心状态、LEU、应答器状态。
考题
填空题为了提高与LEU.计算机联锁.CTC（TDCS）系统通信通道的可靠性，LKD1-T车站列控中心与上述系统均采用双（）连接。
考题
判断题车站列控中心系统设备、LEU和列控车载设备大修（更改）周期为15年。A
对B
错
