考题
缺陷的当量尺寸总是()缺陷的实际尺寸。A.小于B.等于C.大于D.小于或等于
考题
当3N≤S≤6N时，反射体的定量结果误差往往在工程误差允许的范围内。
考题
在同样的检测条件下，当自然缺陷反射回波与某人工规则反射体回波等高时，则该人工规则反射体的尺寸就是此自然缺陷的（）A、实际尺寸B、检测尺寸C、显示尺寸D、当量尺寸
考题
在通用AVG曲线上，可直接查得缺陷的实际声程和当量尺寸。
考题
锻件探伤时，如果用试块比较法对缺陷定量，对于表面粗糙的缺陷，缺陷实际尺寸会（）A、大于当量尺寸B、等于当量尺寸C、小于当量尺寸D、以上都可能
考题
缺陷的实际尺寸一般（）采用当量法确定的缺陷尺寸A、大于B、等于C、小于
考题
锻件检测，如果用试块比较法对缺陷定量，对于表面粗糙的缺陷，缺陷实际尺寸会（）A、 大于当量尺寸B、 等于当量尺寸C、 小于当量尺寸D、 以上都可能
考题
在锻件检测中，对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用当量法定量。
考题
使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时，所测的结果：（）A、小于实际尺寸B、接近声束宽度C、稍大于实际尺寸D、等于晶片尺寸
考题
在用5MHZΦ10晶片的直探头作水浸探伤时，所测结果：（）A、小于实际尺寸B、接近声束宽度C、大于实际尺寸D、等于晶片尺寸
考题
当S≤3N时，反射体的定量结果与实际当量尺寸有较大误差。
考题
当S≤3N时，反射体的定量结果与实际当量尺寸（）。A、略大于实际尺寸B、略小于实际尺寸C、没有误差D、有较大误差
考题
当声程S≥6N（远场区）长度时，反射体的定量结果（）。A、大于实际尺寸B、小于实际尺寸C、接近实际尺寸D、以上都不对
考题
当S≥6N时，反射体的定量结果（）实际当量尺寸。A、大于实际尺寸B、小于实际尺寸C、接近实际尺寸D、有较大误差
考题
当孔的实际尺寸（）轴的实际尺寸时，是间隙配合。A、小于B、等于C、大于
考题
利用缺陷当量计算法定量时，其声程应大于（）探头近场长度，结果才较准确。A、1.5倍B、2倍C、2.5倍D、3倍
考题
在蜗杆传动中，当需要自锁时，应使蜗杆导程角（）当量摩擦角。A、小于B、大于C、等于D、大于或等于
考题
缺陷的当量尺寸总是（）缺陷的实际尺寸。A、小于B、等于C、大于D、小于或等于
考题
单选题使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时，所测的结果：（）A
小于实际尺寸B
接近声束宽度C
稍大于实际尺寸D
等于晶片尺寸
考题
判断题在通用AVG曲线上，可直接查得缺陷的实际声程和当量尺寸。A
对B
错
考题
单选题锻件检测，如果用试块比较法对缺陷定量，对于表面粗糙的缺陷，缺陷实际尺寸会（）A
大于当量尺寸B
等于当量尺寸C
小于当量尺寸D
以上都可能
考题
单选题在同样的检测条件下，当自然缺陷反射回波与某人工规则反射体回波等高时，则该人工规则反射体的尺寸就是此自然缺陷的（）。A
实际尺寸B
检测尺寸C
显示尺寸D
当量尺寸
考题
单选题缺陷的当量尺寸总是（）缺陷的实际尺寸。A
小于B
等于C
大于D
小于或等于
考题
单选题在用5MHZΦ10晶片的直探头作水浸探伤时，所测结果：（）A
小于实际尺寸B
接近声束宽度C
大于实际尺寸D
等于晶片尺寸
考题
单选题利用缺陷当量计算法定量时，其声程应大于（）探头近场长度，结果才较准确。A
1.5倍B
2倍C
2.5倍D
3倍
考题
单选题锻件探伤时，如果用试块比较法对缺陷定量，对于表面粗糙的缺陷，缺陷实际尺寸会（）A
大于当量尺寸B
等于当量尺寸C
小于当量尺寸D
以上都可能
考题
单选题在蜗杆传动中，当需要自锁时，应使蜗杆导程角（）当量摩擦角。A
小于B
大于C
等于D
大于或等于
