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缺陷的深宽越大，漏磁场越大，缺陷越容易检出

参考答案

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考题 当射源（或焦点）尺寸一定时，被透工件的缺陷尺寸越小，则（）A、影像放大率Mf数越小，因而缺陷越难发现B、影像放大率Mf数越大，而缺陷越难观察C、形状修正系数σ越大，因而缺陷检出率越低D、以上都不是
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考题 试件的磁感应强度和试件上缺陷大小都一定时，缺陷埋藏深度越深，漏磁场强度越大
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考题 同等磁化条件下，在一定范围内，缺陷的深宽比越大，产生的漏磁场几乎成线性关系。
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考题 缺陷的高度与宽度之比越小，则缺陷处引起的漏磁场越（）；缺陷的高度与宽度之比越大，则缺陷处引起的漏磁场越（）
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考题 缺陷的深宽比越大，漏磁场越大，缺陷越容易检出。
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考题 对于弯曲试验，试样的（）越大，越容易暴露弯曲缺陷。A、宽度B、厚度C、长度
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考题 涂料密度越大，粘度越低，湿漆膜越厚，越容易产生缺陷。
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考题 缺陷的深宽比越大，产生的漏磁场也就（）。
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考题 缺陷的高度与宽度之比越小，则缺陷处引起的漏磁场越大
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考题 试件内磁感应强度和表面上裂纹的自身高度都一定时，缺陷宽度越大，漏磁场的强度越大
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考题 以下关于漏磁场的叙述中，错误的是（）A、缺陷方向与磁力线平行时，漏磁场最大B、漏磁场的大小与工件的材质无关C、漏磁场的大小与缺陷的深宽比有关D、工件表层下缺陷所产生的漏磁场，随缺陷的埋藏深度增加而增大
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考题 宽度相同的缺陷，其深度比越大，产生的漏磁场也越大。
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考题 通常缺陷的宽深比越大，则缺陷处能引起的漏磁场越大。
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考题 下面关于漏磁场的描述中，正确的是（）A、与缺陷的深宽比有关B、内部缺陷所产生的漏磁场随缺陷埋藏深度的增加而加大C、漏磁场随着工件内磁感应强度的增加而减小D、缺陷平行于磁场方向时漏磁场最小E、A和D是对的
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考题 工件中缺陷漏磁场强度与缺陷埋藏深度的关系是（）。A、深度越大，漏磁场强度越高B、深度越小，漏磁场强度越低C、深度越小，漏磁场强度越高D、深度与漏磁场强度无关
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考题 判断题宽度相同的缺陷，其深度比越大，产生的漏磁场也越大。A 对B 错
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考题 填空题缺陷的深宽比越大，产生的漏磁场也就（）。
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考题 单选题下面关于漏磁场的描述中，正确的是（）A 与缺陷的深宽比有关B 内部缺陷所产生的漏磁场随缺陷埋藏深度的增加而加大C 漏磁场随着工件内磁感应强度的增加而减小D 缺陷平行于磁场方向时漏磁场最小E A和D是对的
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考题 单选题工件中缺陷漏磁场强度与缺陷埋藏深度的关系是（）。A 深度越大，漏磁场强度越高B 深度越小，漏磁场强度越低C 深度越小，漏磁场强度越高D 深度与漏磁场强度无关
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考题 判断题同等磁化条件下，在一定范围内，缺陷的深宽比越大，产生的漏磁场几乎成线性关系。A 对B 错
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考题 判断题缺陷的深宽比越大，漏磁场越大，缺陷越容易检出。A 对B 错
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考题 判断题通常缺陷的宽深比越大，则缺陷处能引起的漏磁场越大。A 对B 错
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考题 判断题试件的磁感应强度和试件上缺陷大小都一定时，缺陷埋藏深度越深，漏磁场强度越大A 对B 错
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考题 单选题当射源（或焦点）尺寸一定时，被透工件的缺陷尺寸越小，则（）A 影像放大率Mf数越小，因而缺陷越难发现B 影像放大率Mf数越大，而缺陷越难观察C 形状修正系数σ越大，因而缺陷检出率越低D 以上都不是
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考题 多选题以下关于漏磁场的叙述中，错误的是（）A缺陷方向与磁力线平行时，漏磁场最大B漏磁场的大小与工件的材质无关C漏磁场的大小与缺陷的深宽比有关D工件表层下缺陷所产生的漏磁场，随缺陷的埋藏深度增加而增大
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考题 判断题缺陷的高度与宽度之比越大，则缺陷处引起的漏磁场越小A 对B 错
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考题 填空题缺陷的高度与宽度之比越小，则缺陷处引起的漏磁场越（）；缺陷的高度与宽度之比越大，则缺陷处引起的漏磁场越（）
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