考题
在超声波探伤中由于探头影响反射波高度的因素有()。A.探头型式B.晶片尺寸C.波束方向D.上述都有
考题
超声波探头发射超声波时产生正压电效应，接收超声波时产生逆压电效应。
考题
超声波探头发射超声波利用的是逆压电效应，而接收超声波则是利用的（）。
考题
超声波探头发射超声波利用的是逆压电效应，而接收超声波则是利用的正压电效应。
考题
超声波是由超声波探伤仪产生（）并施加于探头，利用其晶片的压电效应而获得。A、反射B、衍射C、电振荡D、衰减
考题
斜探头向工件中辐射的横波，是基于压电效应由PZT晶片直接激发出来的。（）
考题
超声波探头中的压电晶片有压电效应，当高频电脉冲激励压电晶片时，发生逆压电效应，将（），探头发射超声波。
考题
压电晶片是利用“逆压电效应”的原理产生超声波的。
考题
超声波探头所选用压电晶片的频率与晶片厚度有密切关系，频率越高，晶片越薄。
考题
超声波直探头影响性能的主要部件是（）A、接头B、保护膜C、壳体D、晶片和阻尼块
考题
用单晶片探头探伤时，探头只能发射或接收超声波。
考题
超声波探伤，为减少近场长度应选用（）的探头.A、低频率B、较小晶片C、低频率和较小晶片D、较大晶片
考题
AVG线图中的A所代表的数值随（）的变化而变化.A、探头晶片直径B、超声波频率C、试件声速
考题
超声波探头的压电晶片的振动频率与晶片厚度有什么关系？
考题
在超声波探伤中由于探头影响反射波高度的因素有（）A、探头型式B、晶片尺寸C、波束方向D、上述都有
考题
超声波探头利用压电晶片的（）发射超声波。A、正压电效应B、逆压电效应C、压电效应D、振动效应
考题
问答题超声波探头的压电晶片的振动频率与晶片厚度有什么关系？
考题
多选题AVG线图中的A所代表的数值随（）的变化而变化.A探头晶片直径B超声波频率C试件声速
考题
判断题超声波探头所使用晶片的压电效应不受温度的影响。A
对B
错
考题
判断题压电晶片，通过逆压电效应产生超声波。（）A
对B
错
考题
单选题在超声波探伤中由于探头影响反射波高度的因素有（）A
探头型式B
晶片尺寸C
波束方向D
上述都有
考题
判断题超声波探头发射超声波时产生正压电效应，接收超声波时产生逆压电效应。A
对B
错
