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金相显微镜测厚镶样时试样横断面与待测镀层的方向是()。

  • A、互相垂直
  • B、互相水平

参考答案

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考题 原子吸收光谱法的特征浓度是A、能产生1%吸收时试样中待测元素的浓度B、能产生1%吸光度时试样中待测元素的浓度C、能产生1%透射时试样中待测元素的浓度D、能产生0.004 44吸收时试样中待测元素的浓度E、能产生0.044吸光度时试样中待测元素的浓度

考题 原子化器的主要作用是A、将试样中待测元素转化为基态原子B、将试样中待测元素转化为激发态原子C、将试样中待测元素转化为中性分子D、将试样中待测元素转化为离子E、将试样中待测元素转化为基态分子

考题 互相垂直3个直角坐标轴在()的投影称为轴测轴。 A、正面B、水平面C、侧平面D、轴测投影面

考题 在测量深孔的圆柱度时,只要是在任意截面上测的互相垂直的两个方向上的数值就可以了。() 此题为判断题(对,错)。

考题 使用金相显微镜测量镀层厚度时,应先制备镀层剖面的金相样品。() 此题为判断题(对,错)。

考题 测斜管埋设时,滑槽方向应与深层水平位移方向垂直。()

考题 物体上互相平行的线段,轴测投影()A.平行 B.垂直 C.无法确定

考题 A.传播方向相同,电场强度的振动方向互相垂直 B.传播方向相同,电场强度的振动方向不互相垂直 C.传播方向不同,电场强度的振动方向互相垂直 D.传播方向不同,电场强度的振动方向不互相垂直

考题 圆钢的直径,在距端()mm处互相垂直的方向上各测一次。A、200B、300C、500

考题 以钢铁为基材的彩色涂层钢板测厚多使用()A、磁性测厚法B、剥离测厚法C、涂层的固化D、金相显微镜法E、涡流法

考题 金相试样两次磨削之间,磨削方向应尽可能互相垂直,以观察前一道磨痕是否磨掉。()

考题 物体上互相平行的线段,轴测投影()。A、平行B、垂直C、倾斜D、无法确定

考题 以下关于高倍显微镜镀层测厚的说法中正确的是()A、现场镀层检验B、经常性的实验室镀层检验C、仅在对其他镀层测量方法存在怀疑时使用D、可以进行闸刀镀银层厚度的非破坏性检测

考题 当叶片发生疲劳断裂时,断面的疲劳纹路与振动方向在一般情况下基本是()。A、互相平行B、互相垂直C、互相交叉

考题 显微镜镀层测厚法缺点是()A、操作方法复杂B、读数不方便C、对被检测工件有破坏D、测量数据不大准确

考题 在曲线地段,横断面方向是与线路施测点的切线相垂直的方向。

考题 空间互相平行的线段,它们的轴测投影相互()。A、平行B、相交C、垂直D、倾斜

考题 互相垂直的3根()坐标轴在轴测投影面的投影称为轴测轴。A、倾斜B、交叉C、相交D、直角

考题 原子吸收分光光度计中的原子化器其主要作用是:()A、将试样中待测元素转化为基态原子B、将试样中待测元素转化为激发态原子C、将试样中待测元素转化为中性分子D、将试样中待测元素转化为离子

考题 判断题在曲线地段,横断面方向是与线路施测点的切线相垂直的方向。A 对B 错

考题 多选题显微镜镀层测厚法缺点是()A操作方法复杂B读数不方便C对被检测工件有破坏D测量数据不大准确

考题 单选题以下关于高倍显微镜镀层测厚的说法中正确的是()A 现场镀层检验B 经常性的实验室镀层检验C 仅在对其他镀层测量方法存在怀疑时使用D 可以进行闸刀镀银层厚度的非破坏性检测

考题 单选题圆钢的直径,在距端()mm处互相垂直的方向上各测一次。A 200B 300C 500

考题 单选题镀层的厚度检验中,()测厚是一种快速、高精度的非破坏性测厚方法。A 点滴法B 金相显微镜法C 磁性法D X射线荧光法

考题 填空题用正常的金相学方法来制作被测镀层的断面试样,然后在带有测微目镜的金相微镜上观察被测镀层横断面的放大图像,从而直接测量镀层的局部厚度的平均厚度,这种镀层的厚度测试方法叫做()。

考题 单选题原子化器的主要作用是:()A 将试样中待测元素转化为基态原子B 将试样中待测元素转化为激发态原子C 将试样中待测元素转化为中性分子D 将试样中待测元素转化为离子

考题 单选题虽然()是一种最简便的镀层测厚法,但是其测量准确度低、仪器简单,所以只能进行粗略测定厚度。A 点滴法B 金相显微镜法C 磁性法D X射线荧光法