网友您好, 请在下方输入框内输入要搜索的题目:

题目内容 (请给出正确答案)

X荧光分析中,下边哪种方法不能降低背景()。

  • A、A、激发条件(Kv,m尽可能高

参考答案

更多 “X荧光分析中,下边哪种方法不能降低背景()。A、A、激发条件(Kv,m尽可能高” 相关考题
考题 下列哪种方法属于均相荧光免疫分析技术A、荧光抗体技术B、时间分辨荧光免疫测定C、荧光酶免疫测定D、荧光偏振免疫测定E、流式细胞分析

考题 下列哪种荧光染料在酸性溶液中荧光强度显著降低A、FITCB、PEC、得州红D、APCE、PC

考题 简述X射线荧光分析中的基体效应,以及克服或校正基体效应的方法。

考题 在X射线荧光分析中,元素的原子序数越大,产生的X射线荧光波长越小。

考题 原子光谱(发射、吸收与荧光)三种分析方法中均很严重的干扰因素是()。A、谱线干扰B、背景干扰C、杂散干扰D、化学干扰

考题 X射线荧光定量分析方法有()和()两大类。

考题 若需要测定生物试样中的伟良氨基酸应选用哪种分析方法()A、荧光光度法B、化学发光法C、磷光光度法D、X荧光光谱法

考题 原子光谱(发射、吸收与荧光)三种分析方法中均很严重的干扰因素是()。A、光谱线干扰B、背景C、杂散光D、化学干扰

考题 X射线荧光光谱分析中,适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。

考题 原子受高能辐射,其外层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。

考题 原子受高能辐射,其内层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为()A、原子荧光分析法B、X射线荧光分析法C、X射线吸收分析法D、X射线发射分析法

考题 X射线荧光光谱分析中,连续光谱激发样品时,连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源,会影响分析元素的检测限,尤其对痕量元素。

考题 X射线荧光光谱法中,分析微量Al的样品不能用()磨料抛光。

考题 X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底(背景)为内标的校正方法。

考题 在X荧光分析中以下哪种方法不能消除吸收-增强效应()。A、内标法B、数学校正法C、滤波D、稀释法

考题 X荧光分析中以下哪种方法不能消除吸收-增强效应()。A、内标法B、数学校正法C、滤波D、稀释法

考题 简述制定X荧光定量分析方法的基本步骤。

考题 X射线荧光分析用于激发试样和产生背景的主要能源是()。A、特征光谱B、连续光谱C、带状光谱D、散射线

考题 X射线荧光分析激发试样和产生背景的主要能源是()。A、特征光谱B、散射线C、带状光谱D、连续光谱

考题 下列分析方法中不属于分子光谱的是()A、红外吸收光谱B、分子荧光光卺C、核磁共振波谱D、x射线荧光光谱

考题 以下方法中,()不能提高荧光屏的亮度。A、降低阴极电压B、升高栅极电压C、降低聚焦电压D、升高加速极电压

考题 简述X射线荧光分析技术中荧光产额的意义。

考题 下述哪种分析方法是以散射光谱为基础的()A、原子发射光谱B、X荧光光谱法C、原子吸收光谱D、拉曼光谱法

考题 下述哪种分析方法是以散射光谱为基础的()A、原子发射光谱B、拉曼光谱C、原子吸收光谱D、X荧光光谱法

考题 问答题简述X射线荧光分析中的基体效应,以及克服或校正基体效应的方法。

考题 单选题原子受高能辐射,其内层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为()A 原子荧光分析法B X射线荧光分析法C X射线吸收分析法D X射线发射分析法

考题 判断题原子受高能辐射,其外层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。A 对B 错