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因为漏磁场的宽度比缺陷的实际宽度大数倍至数十倍,所以磁痕对缺陷宽度有放大作用。


参考答案

更多 “因为漏磁场的宽度比缺陷的实际宽度大数倍至数十倍,所以磁痕对缺陷宽度有放大作用。” 相关考题
考题 磁痕对缺陷的宽度具有放大作用,所以磁粉检测能将目视不可见的缺陷显示出来,具有很高的检测灵敏度。

考题 关于磁痕显示的叙述,正确的是()A、非相关显示不是由漏磁场吸附磁粉磁粉形成的B、表面缺陷磁痕一般宽而模糊、轮廓不清晰C、近表面缺陷磁痕一般浓密清晰、瘦直或弯曲D、以上都不对

考题 缺陷的高度与宽度之比越小,则缺陷处引起的漏磁场越();缺陷的高度与宽度之比越大,则缺陷处引起的漏磁场越()

考题 缺陷的深宽比越大,漏磁场越大,缺陷越容易检出。

考题 磁粉探伤的核心在于能够在试件缺陷附近形成足以吸附一定量的磁粉而呈现磁痕的漏磁场

考题 缺陷的深宽比越大,产生的漏磁场也就()。

考题 用来确定磁粉探伤中表面缺陷的检出能力的一般法则是()A、与缺陷宽深比无关B、缺陷深度至少是其宽度的5倍C、缺陷的宽深比为1D、以上都不是

考题 缺陷的高度与宽度之比越小,则缺陷处引起的漏磁场越大

考题 铁磁性试件表面缺陷的高度()一定时,缺陷宽度越(),则漏磁场强度应越()

考题 按ZBJ 04005-87标准规定,线状缺陷显示迹痕指其长度为宽度()倍以上的缺陷显示迹痕

考题 以下关于漏磁场的叙述中,错误的是()A、缺陷方向与磁力线平行时,漏磁场最大B、漏磁场的大小与工件的材质无关C、漏磁场的大小与缺陷的深宽比有关D、工件表层下缺陷所产生的漏磁场,随缺陷的埋藏深度增加而增大

考题 下列关于漏磁场的叙述中,正确的是()A、缺陷方向与磁力线平行时,漏磁场最大B、漏磁场的大小与工件的磁化程度无关C、漏磁场的大小与缺陷的深度和宽度的比值有关D、工件表层下,缺陷所产生的漏磁场,随缺陷的埋藏深度增加而增大

考题 宽度相同的缺陷,其深度比越大,产生的漏磁场也越大。

考题 通常缺陷的宽深比越大,则缺陷处能引起的漏磁场越大。

考题 下面关于漏磁场的描述中,正确的是()A、与缺陷的深宽比有关B、内部缺陷所产生的漏磁场随缺陷埋藏深度的增加而加大C、漏磁场随着工件内磁感应强度的增加而减小D、缺陷平行于磁场方向时漏磁场最小E、A和D是对的

考题 磁粉探伤中,工件中缺陷尺寸大,宽度小则漏磁场强度最大。

考题 单选题用来确定磁粉探伤中表面缺陷的检出能力的一般法则是()A 与缺陷宽深比无关B 缺陷深度至少是其宽度的5倍C 缺陷的宽深比为1D 以上都不是

考题 判断题宽度相同的缺陷,其深度比越大,产生的漏磁场也越大。A 对B 错

考题 判断题磁痕对缺陷的宽度具有放大作用,所以磁粉检测能将目视不可见的缺陷显示出来,具有很高的检测灵敏度。A 对B 错

考题 判断题磁粉探伤中,工件中缺陷尺寸大,宽度小则漏磁场强度最大。A 对B 错

考题 判断题缺陷的深宽比越大,漏磁场越大,缺陷越容易检出。A 对B 错

考题 判断题缺陷的高度与宽度之比越小,则缺陷处引起的漏磁场越小A 对B 错

考题 判断题通常缺陷的宽深比越大,则缺陷处能引起的漏磁场越大。A 对B 错

考题 单选题用来确定磁粉探伤中表面缺陷的检出能力的一般法则是()A 与缺陷宽深比无关;B 缺陷深度至少是其宽度的5倍;C 缺陷的宽深比为1;D 以上都不是

考题 判断题因为漏磁场的宽度比缺陷的实际宽度大数倍至数十倍,所以磁痕对缺陷宽度有放大作用。A 对B 错

考题 单选题关于磁痕显示的叙述,正确的是()A 非相关显示不是由漏磁场吸附磁粉磁粉形成的B 表面缺陷磁痕一般宽而模糊、轮廓不清晰C 近表面缺陷磁痕一般浓密清晰、瘦直或弯曲D 以上都不对

考题 填空题缺陷的高度与宽度之比越小,则缺陷处引起的漏磁场越();缺陷的高度与宽度之比越大,则缺陷处引起的漏磁场越()