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单选题
外径千分尺测砧工作面的表面粗糙度用（）检
A

光洁度样板

B

表面粗糙度比较样块

C

比较仪

D

放大镜

参考答案

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考题 下列测量中属于相对测量的有（）。A、用千分尺测外径B、用光学比较仪测外径C、用游标卡尺测外径D、用内径千分尺测量内径
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考题 v型测砧千分尺是用于测量等分（）数槽零件外径尺寸的一伸待殊测微量具。
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考题 V形测砧千分尺是用于测量等分奇数槽零件外径尺寸的一种特殊测微量具。
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考题 下列测量中属于相对测量的有（）。A、用千分尺测外径B、用光学比较仪测外径C、用内径百分表测内径D、用内径千分尺测量内径E、用游标卡尺测外径
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考题 在外径千分尺的检定过程中，量块不仅可以用来检定丝杆示值，还可以用来检定测砧和测微螺杆工作面的（）。
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考题 外径千分尺测砧工作面的表面粗糙度不得大于（）A、0.02μmB、0.03μmC、0.04μmD、0.05μm
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考题 1级外径千分尺两测砧工作面的平面度公差为（）A、0.3μmB、0.6μmC、0.9μmD、1.0μm
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考题 外径千分尺测砧工作面的表面粗糙度用（）检A、光洁度样板B、表面粗糙度比较样块C、比较仪D、放大镜
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考题 千分尺测砧与测微螺杆测量面的相对偏移的检定是在平板上用杠杆百分表进行，对于测量范围大于（）的千分尺用百分表检定。A、200mmB、300mmC、400mm
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考题 外径千分尺和校对量杆的工作面的表面粗糙洁度Ra应不大于（），壁厚和板厚千分尺工作面的Ra不大于（）。
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考题 填空题在外径千分尺的检定过程中，量块不仅可以用来检定丝杆示值，还可以用来检定测砧和测微螺杆工作面的（）。
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考题 判断题测量范围为25～50mm的千分尺测砧与测微螺杆工作面的相对偏移量应不大于0.1mm。A 对B 错
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考题 单选题外径千分尺测砧工作面的表面粗糙度不得大于（）A 0.02μmB 0.03μmC 0.04μmD 0.05μm
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考题 单选题千分尺测砧与测微螺杆测量面的相对偏移的检定是在平板上用杠杆百分表进行，对于测量范围大于（）的千分尺用百分表检定。A 200mmB 300mmC 400mm
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考题 单选题外径千分尺测砧工作面的表面粗糙度用（）检A 光洁度样板B 表面粗糙度比较样块C 比较仪D 放大镜
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考题 单选题下列测量中属于相对测量的有（）。A 用千分尺测外径B 用光学比较仪测外径C 用游标卡尺测外径D 用内径千分尺测量内径
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