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EDI为了得到较高电阻率和较低二氧化硅含量的产品水,产品水流量应该在给定范围的上限。

A

B


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考题 EDI为了得到较高电阻率和较低二氧化硅含量的产品水,浓水流量应为给定范围的下限。A对B错

考题 EDI组件实际运行电流低于规定值,可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。A对B错

考题 EDI组件给水二氧化碳含量和pH值将明显影响产品水电阻率。A对B错

考题 进水压力低将导致EDI产品水流量低。A对B错

考题 变价金属离子对EDI组件的影响是离子不能被完全清除,使产品水的电阻率降低。A对B错

考题 EDI模块内部树脂再生操作方法:浓水流量、极水流量调整至规定的下限值,产品水流量调整至规定的上限值,慢慢增加电流至规定的上限值。A对B错

考题 为避免EDI组件浓水中离子过度积累,需要将部分浓水排放。排放量为纯水流量10~20%,排放掉的浓水由EDI产品水补充。A对B错

考题 为了保证EDI组件内部泄漏不影响纯水水质,产品水出口压力应当比浓水和极水出口压力高。A对B错

考题 EDI组件实际运行电流低于规定值,可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。

考题 精矿经选别后得到的有用矿物含量较高的最终产品。

考题 为避免EDI组件浓水中离子过度积累,需要将部分浓水排放。排放量为纯水流量10~20%,排放掉的浓水由EDI产品水补充。

考题 EDI为了得到较高电阻率和较低二氧化硅含量的产品水,产品水流量应该在给定范围的上限。

考题 EDI为了得到较高电阻率和较低二氧化硅含量的产品水,浓水流量应为给定范围的下限。

考题 变价金属离子对EDI组件的影响是离子不能被完全清除,使产品水的电阻率降低。

考题 EDI模块内部树脂再生操作方法:浓水流量、极水流量调整至规定的下限值,产品水流量调整至规定的上限值,慢慢增加电流至规定的上限值。

考题 为了保证EDI组件内部泄漏不影响纯水水质,产品水出口压力应当比浓水和极水出口压力高。

考题 EDI组件实际运行()规定值,可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。A、电流低于B、电流高于C、压力低于D、压力高于

考题 变价金属离子对EDI组件的影响是()。A、引起离子交换树脂中毒B、对离子交换树脂氧化催化作用,会造成树脂的永久损伤C、引起离子极化现象使产品水的电阻率降低D、离子不能被完全清除,使产品水的电阻率降低

考题 进水压力低将导致EDI产品水流量低。

考题 EDI组件给水二氧化碳含量和pH值将明显影响产品水电阻率。

考题 判断题EDI为了得到较高电阻率和较低二氧化硅含量的产品水,浓水流量应为给定范围的下限。A 对B 错

考题 判断题EDI为了得到较高电阻率和较低二氧化硅含量的产品水,产品水流量应该在给定范围的上限。A 对B 错

考题 判断题EDI模块内部树脂再生操作方法:浓水流量、极水流量调整至规定的下限值,产品水流量调整至规定的上限值,慢慢增加电流至规定的上限值。A 对B 错

考题 判断题为避免EDI组件浓水中离子过度积累,需要将部分浓水排放。排放量为纯水流量10~20%,排放掉的浓水由EDI产品水补充。A 对B 错

考题 判断题EDI组件实际运行电流低于规定值,可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。A 对B 错

考题 判断题变价金属离子对EDI组件的影响是离子不能被完全清除,使产品水的电阻率降低。A 对B 错

考题 判断题EDI组件给水二氧化碳含量和pH值将明显影响产品水电阻率。A 对B 错