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使用能谱仪对样品表面进行元素分析时，对于薄膜试样，为了避免基材形成干扰，要选择较低的加速电压

参考答案和解析
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考题 微库仑分析中,偏压对于分析的影响是()。 A、低含量样品选择较高的偏压B、低含量样品选择较低的偏压C、高偏压对应较高的峰电流D、高偏压对应较低的峰电流
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考题 在建筑密封材料试验方法的定伸粘接性的测定中,嵌填试样应该注意。1避免形成气泡;2将试样挤压在基材的粘贴面上,粘贴结实;3修整式样表面,使之与基材和隔离垫块的表面平齐。( ) A.1B.13C.123D.23
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考题 采用液液萃取和固相萃取高效液相色谱法分析水中多环芳烃，对样品进行氮吹浓缩时，所使用的氮气纯度应≥99.999%，以避免干扰。
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考题 用摄谱法进行元素定性分析时，测量感光板上的光谱图采用（）A、光度计B、测微光度计C、映谱仪
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考题 利用X荧光光谱仪分析试样中的As、Pb时，AsKα线与PbLα线有干扰，则应选择（）线进行分析。
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考题 光电直读光谱仪对于测试样品的要求是怎样的？
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考题 用发射光谱进行元素定性分析依据是（）。A、元素的特征谱线是否出现B、元素的特征谱线强度C、元素的含量D、样品的基体成分
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考题 303极谱仪测试样品前，仪器自检正常，测试样品时极谱曲线为一直线，请分析故障原因。
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考题 有关红外光谱试样处理和制样方法的要求错误的是（）A、利用红外光谱进行结构分析时，为了便于与纯物质的标准光谱进行对照，试样必须是单一组分的纯物质且纯度要大于99%。B、混合试样测定前要经过分馏、萃取、重结晶等方法进行分离提纯或采用联用方法进行分析，否则各组分光谱相互重叠，谱图很难解析。C、由于水本身有红外吸收，且严重干扰试样光谱，此外，水还会浸蚀KBr盐片，所以试样中通常不能含有游离水。D、固体试样可以采用KBr压片法、石蜡糊法和薄膜法测定红外光谱，液体试样常用液体池和液膜法，气体试样则需要在专用的气体池内进行测定。E、试样的浓度和测试厚度对红外光谱分析的影响很大，尤其是对定量分析的影响更大，通常要求光谱中大多数吸收峰的透过率在10%-80%。
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考题 原子吸收测定中，以下叙述和做法正确的是（）。A、一定要选择待测元素的共振线作分析线，绝不可采用其他谱线作分析线。B、在维持稳定和适宜的光强条件下，应尽量选用较低的灯电流C、对于碱金属元素，一定要选用富燃火焰进行测定D、消除物理干扰，可选用高温火焰
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪的原级谱线滤光片位于X射线管与（）之间，是一种能（）吸收某波长或波带的金属薄膜。A、样品B、晶体C、选择性地D、反射
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考题 气温较低时进行气味检验，可对试样呵气或加热试样，待提高样品温度后再嗅辨。
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考题 为了提高测定低含量组分的灵敏度，通常选用待测元素的共振线作为分析线但当待测元素的共振线受到其他谱线干扰时，则选用其他无干扰的较灵敏谱线作为分析线。
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考题 分解试样的方法很多，选择分解试样的方法时应考虑（　）等几方面的问题。A、样品组成B、测定对象C、测定方法D、干扰元素
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考题 ICP-AES法测定多元素时，在标准和分析试样中加入过量的易电离元素，可抑制或消除。A、物理干扰B、化学干扰C、电离干扰
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考题 利用显微镜观察样品，要进行聚焦，正确的做法是（）。A、调焦时要避免物镜与样品接触B、把样品放在物镜上C、先转动微调螺旋，使载物台下降D、手动移动试样，至清晰
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考题 利用P-K仪进行样品分析时，测定完毕后，随机打印结果，对每个样品多次测量取（），以避免因样品的非均质性造成偏差过大。
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考题 在使用谱仪进行样品的放射性测量时，本底计数率就是指样品中的天然本底引起的计数率。
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考题 下列有光光谱定性分析的叙述中不正确的是（）A、在元素光谱定性分析时，并不要求对元素的所有谱线都进行鉴别B、原子发射光谱定性分析一般采用摄谱法C、光谱仪入射狭缝应该选择大一些D、光谱定性分析一般采用灵敏度高的紫外Ⅱ型感光板
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考题 多选题分解试样的方法很多，选择分解试样的方法时应考虑（　）等几方面的问题。A样品组成B测定对象C测定方法D干扰元素
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考题 判断题在使用谱仪进行样品的放射性测量时，本底计数率就是指样品中的天然本底引起的计数率。A 对B 错
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考题 单选题对于柴油机滑油状态监控系统，润滑油样分析时，一般应先进行油的理化性能分析和光谱分析，然后在此基础上进行（）分析，必要时再作（）分析。A 直读式铁谱仪、分析式铁谱仪B 直读式铁谱仪、旋转式铁谱仪C 旋转式铁谱仪、分析式铁谱仪D 分析式铁谱仪、直读式铁谱仪
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考题 判断题采用液液萃取和固相萃取高效液相色谱法分析水中多环芳烃，对样品进行氮吹浓缩时，所使用的氮气纯度应≥99.999%，以避免干扰。A 对B 错
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考题 判断题为了提高测定低含量组分的灵敏度，通常选用待测元素的共振线作为分析线。但当待测元素的共振线受到其他谱线干扰时，则选用其他无干扰的较灵敏谱线作为分析线。A 对B 错
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考题 单选题用发射光谱进行元素定性分析依据是（）。A 元素的特征谱线是否出现B 元素的特征谱线强度C 元素的含量D 样品的基体成分
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考题 填空题利用P-K仪进行样品分析时，测定完毕后，随机打印结果，对每个样品多次测量取（），以避免因样品的非均质性造成偏差过大。
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考题 填空题样品缩分时，通常留下（），送化验室作为分析试样，试样最后细度应便于溶解。对于较难溶解的试样，要研磨至能通过（）细筛。
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