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对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而()。

A升高

B降低

C基本不变


参考答案

参考解析
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考题 当试品绝缘受潮时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线。A对B错

考题 于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而()。A升高B降低C基本不变

考题 对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而基本不变。A对B错

考题 对于额定电压为35kV及以上的设备,测试tanδ时一般升压至10kV。A对B错

考题 对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而降低。A对B错

考题 当试品绝缘中存在气隙时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈闭合的环状曲线。A对B错

考题 当试品绝缘受潮时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线。

考题 断路器的额定绝缘电压(U1)是制造厂规定的电压值,此值与介电试验电压以及爬电距离有关。除非另有规定,额定绝缘电压是断路器的最大额定电压值,在任何情况下,最大额定电压不应超过额定绝缘电压。

考题 电流互感器主绝缘tanδ试验电压为10kV,末屏对地tanδ试验电压为2kV()

考题 当试品绝缘中存在气隙时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈闭合的环状曲线。

考题 对于额定电压为35kV及以上的设备,测试tanδ时一般升压至10kV。

考题 tanδ测试时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线,则试品属于()。A、良好绝缘B、绝缘中存在气隙C、绝缘受潮

考题 对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而()。A、升高B、降低C、基本不变

考题 对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而降低。

考题 对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而基本不变。

考题 关于电容型电流互感器高压介质损测量,下列说法正确的是()。A、绝缘良好的设备tgδ值不随试验电压的升高而偏大,只在接近额定电压时才略微增加B、绝缘严重受潮的设备在较低的电压下,tgδ值就较大,随着电压的升高tgδ值增大C、发生气隙局放设备达到局放起始放电电压时,tgδ急剧增高D、绝缘中含有离子型杂质的设备,tgδ随电压上升而下降

考题 单选题对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而()。A 升高B 降低C 基本不变

考题 判断题对于良好绝缘的Tan6测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而降低。A 对B 错

考题 单选题tanδ测试时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线,则试品属于()A 良好绝缘B 绝缘中存在气隙C 绝缘受潮

考题 单选题于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而()。A 升高B 降低C 基本不变

考题 判断题对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而降低。A 对B 错

考题 判断题对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而基本不变。A 对B 错

考题 判断题当试品绝缘中存在气隙时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈闭合的环状曲线。A 对B 错

考题 判断题对于额定电压为35kV及以上的设备,测试tanδ时一般升压至10kV。A 对B 错

考题 判断题断路器的额定绝缘电压(U1)是制造厂规定的电压值,此值与介电试验电压以及爬电距离有关。除非另有规定,额定绝缘电压是断路器的最大额定电压值,在任何情况下,最大额定电压不应超过额定绝缘电压。A 对B 错

考题 判断题当试品绝缘受潮时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线。A 对B 错