网友您好, 请在下方输入框内输入要搜索的题目:

题目内容 (请给出正确答案)
单选题
用来测试干扰情况及定位干扰源的仪表为()。
A

功率计

B

基站综合测试仪

C

手持频谱仪

D

干扰测试仪


参考答案

参考解析
解析: 暂无解析
更多 “单选题用来测试干扰情况及定位干扰源的仪表为()。A 功率计B 基站综合测试仪C 手持频谱仪D 干扰测试仪” 相关考题
考题 干扰分析的内容有()。 A.网外干扰源的定位B.网内干扰源的定位C.网间干扰源的定位

考题 在新建TD-LTE网络时,必须要进行清频测试,以方便发现与定位外界干扰信号,并规避外界干扰对系统的影响。()

考题 关于三点干扰定位方法,下述说法不正确的是()A、简单来说就是三点定区域,逐次逼近的方法B、三点干扰定位就是三个人在不同的三点同时进行干扰测试定位C、三点定区域是指对于存在的干扰频点,利用泰克干扰频谱仪使用定向天线在干扰附近测试三点,确定干扰所在的区域D、逐次逼近的方法是指在确定的干扰区域里,利用泰克干扰频谱仪使用定向天线按照仪器显示的干扰强度,多方向逐渐向干扰最强的位置逼近,最终发现干扰的方法

考题 在对具有自动频率跟踪的DVM测试串模干扰抑制比时,要使供电电源和干扰源应为同一电源。A对B错

考题 仪表的干扰源分为()、()。

考题 在对具有自动频率跟踪的DVM测试串模干扰抑制比时,要使供电电源和干扰源应为同一电源。

考题 仪表抗干扰措施的唯一途径是提高仪表本身的抗干扰能力。

考题 用来测试干扰情况及定位干扰源的仪表为()。A、功率计B、基站综合测试仪C、手持频谱仪D、干扰测试仪

考题 对检测探头来讲,干扰信号是相对的,例如()。A、对探伤来讲,材质变化、尺寸变化是干扰源B、对材质分选讲,缺陷情况、尺寸变化是干扰源C、对尺寸测量讲,缺陷情况、材质变化是干扰源D、以上三句全对

考题 根据干扰的三要素,干扰形成的途径为:干扰源、耦合通道、电磁敏感设备。

考题 简述影响测试系统正常工作的干扰源有那些?

考题 干扰分析的内容有()。A、网外干扰源的定位B、网内干扰源的定位C、网间干扰源的定位

考题 以下不适用于电磁干扰测试中进行干扰源定位的天线有()。A、对数周期天线B、板状定向天线C、八木天线D、便携式全向天线

考题 在客户要求做清频测试的情况下,若频谱扫描发现存在干扰,可自行对干扰源进行查找.

考题 关于系统内、系统外干扰说法正确的是()A、系统内部干扰通常只会干扰到上行时隙某一、两个时隙,而系统外干扰会干扰所有的上行时隙B、定位系统外干扰源可以采用多点交叉法来逐渐查找、接近干扰源,而系统内干扰就不能采用这个方法。C、系统内干扰可以采用预先分析方法来排除,如某区域受到干扰,但在区域内只有某个基站底噪正常,一般可以认为此基站为干扰源D、按照协议标准时隙结构,保护时隙GP为96chips,决定了小区覆盖半径为11.25km,当某个小区DWPTS信号覆盖超过11.25km,会导致UPPTS不能进行同步产生干扰

考题 在新建LTE网络时,必须要进行清频测试,以方便发现与定位外界干扰信号,并规避外界干扰对系统的影响。

考题 用仪表测试线路物理指标正常,但上行速率不达标,可能原因是().A、MODEM坏B、存在干扰源C、测量台跳线错误D、线路太粗

考题 下列哪些情况会造成组合仪表指示不正确()A、车辆在颠簸路面行驶B、组合仪表接地不可靠C、过强的干扰源干扰D、线路出现短路

考题 特高频检测中,干扰信号的抑制可采用关闭干扰源、()外部干扰、软硬件滤波、避开干扰较大时间、抑制噪声、定位干扰源、比对典型干扰图谱等方法。A、屏蔽B、关闭C、抑制D、避开

考题 就地仪表安装环境要远离()。A、热源B、振动源C、干扰源及腐蚀性场所D、声音源

考题 单选题用来测试干扰情况及定位干扰源的仪表为()。A 功率计B 基站综合测试仪C 手持频谱仪D 干扰测试仪

考题 单选题以下不适用于电磁干扰测试中进行干扰源定位的天线有()。A 对数周期天线B 板状定向天线C 八木天线D 便携式全向天线

考题 判断题在客户要求做清频测试的情况下,若频谱扫描发现存在干扰,可自行对干扰源进行查找.A 对B 错

考题 问答题简述影响测试系统正常工作的干扰源有那些?

考题 多选题通常清频包含的动作有哪些()A大带宽频域扫频B天面频域扫频C干扰源定位D模拟测试

考题 填空题仪表的干扰源分为()、()。

考题 单选题对检测探头来讲,干扰信号是相对的,例如()。A 对探伤来讲,材质变化、尺寸变化是干扰源B 对材质分选讲,缺陷情况、尺寸变化是干扰源C 对尺寸测量讲,缺陷情况、材质变化是干扰源D 以上三句全对

考题 单选题用仪表测试线路物理指标正常,但上行速率不达标,可能原因是().A MODEM坏B 存在干扰源C 测量台跳线错误D 线路太粗