考题
超声波的频率取决于晶片的振动频率,()。
A、频率越高晶片越厚B、频率越高晶片越薄C、频率越低晶片越薄D、频率越低晶片越小
考题
超声波的频率取决于晶片的振动频率,频率越高晶片越厚。()
此题为判断题(对，错)。
考题
换能器频率与晶片厚度有关，晶片越（），频率越（），材料对声能的衰减越（）
考题
晶片厚度和探头频率是相关的，晶片越厚，则（）A、频率越低B、频率越高C、无明显影响D、频率先高后低
考题
晶片厚度和探头频率是相关的，晶片越厚则频率（）
考题
晶片厚度与晶片的频率密切相关，晶片厚度越厚，频率越低。
考题
压电陶瓷晶片越厚，则换能器发射的声波频率（）。A、越低B、越高C、基本不变D、没有影响
考题
晶片厚度和探头频率是相关的，晶片越厚则（）A、频率越低B、频率越高C、无明显影响D、频率变化不定
考题
晶片厚度和探头频率是相关的，晶片越厚，则（）A、频率越低B、频率越高C、无明显影响
考题
探头频率与晶片厚度有关，晶片越薄（）。A、 频率越低B、 频率越高C、 频率无显著变化D、 以上都不对
考题
超声波探头所选用压电晶片的频率与晶片厚度有密切关系，频率越高，晶片越薄。
考题
一般说来，要求声音的质量越高，则采用的（）A、量化级数越低和采样频率越低B、量化级数越高和采样频率越高C、量化级数越低和采样频率越高D、量化级数越高和采样频率越低
考题
在超声波探伤中，探头芯片厚度与探头频率有关，芯片越厚，频率（）。A、越高B、越低C、变化不大
考题
芯片厚度和探头频率是有关的，当芯片越厚时，其频率（）。
考题
一般说来，声音的质量要求越高，则（）A、量化位数越低和采样频率越低B、量化位数越高和采样频率越高C、量化位数越低和采样频率越高D、量化位数越高和采样频率越低
考题
单选题在超声波探伤中，探头芯片厚度与探头频率有关，芯片越厚，频率（）。A
越高B
越低C
变化不大
考题
填空题换能器频率与晶片厚度有关，晶片越（），频率越（），材料对声能的衰减越（）
考题
单选题一般说来，要求声音的质量越高，则采用的（）A
量化级数越低和采样频率越低B
量化级数越高和采样频率越高C
量化级数越低和采样频率越高D
量化级数越高和采样频率越低
考题
单选题一般说来，要求声音的质量越高，则（）。A
分辨率越低和采样频率越低B
分辨率越高和采样频率越低C
分辨率越低和采样频率越高D
分辨率越高和采样频率越高
考题
单选题晶片厚度和探头频率是相关的，晶片越厚则（）A
频率越低B
频率越高C
无明显影响D
频率变化不定
考题
单选题一般说来，要求声音的质量越高，则（）。A
量化级数越低和采样频率越低 B
量化级数越高和采样频率越高C
量化级数越低和采样频率越高D
量化级数越高和采样频率越低
考题
填空题晶片厚度和探头频率是相关的，晶片越厚则频率（）
考题
单选题探头频率与晶片厚度有关，晶片越薄（）。A
频率越低B
频率越高C
频率无显著变化D
以上都不对
考题
单选题晶片厚度和探头频率是相关的，晶片越厚，则（）A
频率越低B
频率越高C
无明显影响D
频率先高后低
考题
单选题压电陶瓷晶片越厚，则换能器发射的声波频率（）。A
越低B
越高C
基本不变D
没有影响