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判断题
接触是指硅芯片内的器件与第一层金属层之间在硅表面的连接。
A

B


参考答案

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考题 可控硅是具有()个PN结的四层半导体器件。 A、三B、四C、五

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考题 硅提纯及制备工艺流程正确的是()。 A、石英砂-西门子法多晶硅-金属硅-直拉单晶硅B、金属硅-石英砂-西门子法多晶硅-直拉单晶硅C、石英砂-金属硅-西门子法多晶硅-直拉单晶硅D、西门子法多晶硅-石英砂-金属硅-直拉单晶硅

考题 生物芯片又称蛋白芯片或基因芯片,是指通过缩微技术、将( )材料集成于硅芯片或玻璃芯片表面的微型生物化学分析系统。A、生物B、电子C、基因

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考题 为了满足半导体器件对金属材料的低电阻连接以及可靠的要求,金属材料应该满足()。A、低电阻率B、易与p或n型硅形成欧姆接触C、可与硅或二氧化硅反应D、易于光刻E、便于进行键合

考题 当元器件为金属外壳同时安装面又有印制导线时,下列选项中不能加在元器件与印制板之间的是()。A、青稞纸B、绝缘套管C、胶木板D、导热硅

考题 对于硅胶而言,其表面的硅羟基是进行化学修饰的基础,硅胶表面的硅羟基的主要存在形式是()A、硅三羟基;B、硅二羟基;C、邻位硅羟基;D、单硅羟基;

考题 跳线指()A、不带连接器件的电缆线与带连接器件的光纤,用于配线设备之间进行连接B、带连接器件的电缆线与带连接器件的光纤,用于配线设备之间进行连接C、不带连接器件的电缆线与不带连接器件的光纤,用于配线设备之间进行连接D、带连接器件的电缆线与不带连接器件的光纤,用于配线设备之间进行连接

考题 下列()是硅还原的特点?A、硅在炉腰或炉腹上部开始还原B、铁中含硅量是最终铁含硅量的2.34-3.87倍C、硅在炉腹中部还原量最大D、硅在滴落带内被大量还原

考题 地壳的陆壳分为()和硅镁层。A、硅铁层B、硅钾层C、硅铝层D、硅钠层

考题 可控硅是一种按P—N—P—N型次序排列的四层硅半导体器件。()

考题 陆壳特征是厚度较大(30~70km)具双层结构,即在玄武岩之上有花岗岩,总体来看是硅铝层浮在()之上。A、硅铁层B、硅钙层C、硅镁层D、硅钠层

考题 集成电路的主要制造流程是()A、硅抛光片——晶圆——芯片——集成电路——成品测试B、硅抛光片——芯片——晶圆——成品测试——集成电路C、晶圆——硅抛光片——芯片——成品测试——集成电路D、硅抛光片——芯片——晶圆——集成电路——成品测试

考题 地球内圈有一些重要不连续面(或间断面),其中地壳与地幔之间的叫();地壳硅铝层与硅镁层之间的叫();地幔与地核之间的叫();内、外地核之间的叫()。

考题 在半导体工艺中,与氮化硅比较,二氧化硅更适合应用在()。A、晶圆顶层的保护层B、多层金属的介质层C、多晶硅与金属之间的绝缘层D、掺杂阻挡层E、晶圆片上器件之间的隔离

考题 以()等两层材料所组合而成的导电层便称为Polycide。A、单晶硅B、多晶硅C、硅化金属D、二氧化硅E、氮化硅

考题 康德面是硅铝层与硅镁层的分界面。

考题 关于地壳的叙述正确的是()A、地壳是岩石圈的重要组成部分B、地壳分为上下两层,上层为硅镁层,下层为硅铝层。C、硅镁层是一个不连续的圈层D、硅铝层在大陆、大洋地壳中普遍存在

考题 单选题速发型硅沉着病是指从事矽尘作业多长时间出现的硅沉着病(  )。A 接触矽尘半年后才出现的硅沉着病B 接触矽尘5年以后出现的硅沉着病C 接触矽尘5年以后出现的硅沉着病D 脱离矽尘作业1~2年后才发现的硅沉着病E 以上都不是

考题 单选题地壳的陆壳分为()和硅镁层。A 硅铁层B 硅钾层C 硅铝层D 硅钠层

考题 单选题新的地球物理学说认为,地球漂移的层面是()。A 硅铝和硅镁层之间B 海洋与陆地接触层C 盆地与山脉接触层D 岩石圈

考题 单选题集成电路的主要制造流程是()A 硅抛光片——晶圆——芯片——集成电路——成品测试B 硅抛光片——芯片——晶圆——成品测试——集成电路C 晶圆——硅抛光片——芯片——成品测试——集成电路D 硅抛光片——芯片——晶圆——集成电路——成品测试

考题 判断题在集成电路版图设计中,器件之间的联接是通过引线孔和金属层联接的,如有源区的引出,多晶硅电阻的联接。A 对B 错

考题 判断题康德面是硅铝层与硅镁层的分界面。A 对B 错

考题 单选题在做集成电路的多晶硅电容设计时,要计算每个电容的容值,那么电容的面积大小是怎样计算的?()A 第一层多晶硅的面积B 第二层多晶硅的面积C 二层多晶硅重叠后的面积

考题 单选题对于硅胶而言,其表面的硅羟基是进行化学修饰的基础,硅胶表面的硅羟基的主要存在形式是()A 硅三羟基;B 硅二羟基;C 邻位硅羟基;D 单硅羟基;