网友您好, 请在下方输入框内输入要搜索的题目:
题目内容
(请给出正确答案)
关于缺陷以下描述正确的是?
A.供价晶体中的点缺陷可以形成色心。
B.位错滑移时,刃位错上原子受力方向就是位错滑移方向。
C.位错滑移时,螺位错上原子受力方向与位错滑移方向垂直。
D.离子晶体中的点缺陷可以形成色心。
参考答案和解析
供价晶体中的点缺陷可以形成色心。
更多 “关于缺陷以下描述正确的是?A.供价晶体中的点缺陷可以形成色心。B.位错滑移时,刃位错上原子受力方向就是位错滑移方向。C.位错滑移时,螺位错上原子受力方向与位错滑移方向垂直。D.离子晶体中的点缺陷可以形成色心。” 相关考题
考题
以下关于测试作用的描述,不正确的是()
A.测试无法显示软件潜在的缺陷B.测试能保证软件的缺陷和错误全部找到C.测试只能证明软件存在错误而不能证明软件没有错误D.所有的软件测试都应追溯到用户需求
考题
以下关于测试作用的描述,不正确的是()A、测试无法显示软件潜在的缺陷B、测试能保证软件的缺陷和错误全部找到C、测试只能证明软件存在错误而不能证明软件没有错误D、所有的软件测试都应追溯到用户需求
考题
按照缺陷性质分类,下列关于输电缺陷的描述正确的是()A、输电缺陷应在发生后24小时内录入系统B、危急缺陷应在发现后24小时内消缺C、紧急缺陷和一般缺陷不统计消缺及时率D、以上说法均正确
考题
以下有关检测管材的描述,哪个是正确的()A、横波检测薄壁管的内、外壁缺陷B、斜入射纵波检测厚壁管外壁缺陷,变形横波检测内壁缺陷C、斜入射纵波检测厚壁管外壁缺陷,反射纵波检测内壁缺陷D、以上都是
考题
下述关于内控缺陷的描述正确的是()A、设计缺陷是因软件编程过程中因设计或规划不到位导致的缺陷B、运行缺陷是系统在运行过程中出现的缺陷C、设计缺陷因制度或流程设计缺陷而引发D、运行缺陷因制度执行不到位而引发
考题
多选题下述关于内控缺陷的描述正确的是()A设计缺陷是因软件编程过程中因设计或规划不到位导致的缺陷B运行缺陷是系统在运行过程中出现的缺陷C设计缺陷因制度或流程设计缺陷而引发D运行缺陷因制度执行不到位而引发
考题
单选题以下关于NAS的描述,正确的是:() 描述1:NAS总是基于文件共享。 描述2:网络连接的距离影响NAS的性能。A
描述1和描述2都正确B
描述1正确,描述2错误C
描述1错误,描述2正确D
描述1和描述2都错误
考题
多选题将PSC、报告录入A、PC、IS时,缺陷描述的不正确填写方法是()。A仅选择系统中提供的缺陷大项名称B同一缺陷代码下的缺陷描述可以仅填写缺陷大项名称C不同缺陷代码下的缺陷描述可以仅填写缺陷大项名称DD、缺陷描述应尽可能表述详尽,且与PS纸质报告保持一致
考题
单选题以下有关检测管材的描述,哪个是正确的()A
横波检测薄壁管的内、外壁缺陷B
斜入射纵波检测厚壁管外壁缺陷,变形横波检测内壁缺陷C
斜入射纵波检测厚壁管外壁缺陷,反射纵波检测内壁缺陷D
以上都是
热门标签
最新试卷