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2、利用各种规则反射体的回波声压公式和实际探伤中测得的缺陷波高,来计算缺陷的当量大小, 这种缺陷定量方法称为()

A.当量试块比较法

B.当量计算法

C.当量AVG曲线法

D.底波高度法


参考答案和解析
D
更多 “2、利用各种规则反射体的回波声压公式和实际探伤中测得的缺陷波高,来计算缺陷的当量大小, 这种缺陷定量方法称为()A.当量试块比较法B.当量计算法C.当量AVG曲线法D.底波高度法” 相关考题
考题 在超声波检测法测量缺陷大小中,将工件中的自然缺陷回波与试块上的人工缺陷回波进行比较来对缺陷定量的方法被称作当量AVG曲线法。

考题 对球墨铸铁探伤时,可采用下列哪种方法判断铸件质量()A、底面回波次数B、杂波高度C、缺陷波幅度D、缺陷波占宽

考题 在同样的检测条件下,当自然缺陷反射回波与某人工规则反射体回波等高时,则该人工规则反射体的尺寸就是此自然缺陷的()A、实际尺寸B、检测尺寸C、显示尺寸D、当量尺寸

考题 在焊缝探伤中干扰回波也可作为缺陷波。

考题 在同样的检测条件下,当自然缺陷的反射回波,与某人工规则反射体的反射回波等高时,则该人工规则反射体的尺寸,就是此自然缺陷的实际尺寸。

考题 焊缝斜角探伤时,正确调节仪器扫描比例时为了:()A、缺陷定位B、缺陷定量C、判定结构反射波和缺陷波D、以上A和C

考题 以下哪些缺陷尺寸的评定方法适用于焊缝等横波检测()A、缺陷回波高度与底面回波高度比较B、缺陷回波高度与参考反射体回波高度比较C、以缺陷回波高度与基准波高的分贝差计算当量D、缺陷指示长度测定

考题 钢板探伤时,通常只根据缺陷波的情况来判定缺陷。()

考题 标定是以某些人工规则反射体的反射波高作为基准,对缺陷进行定量的方法。

考题 焊缝斜角探伤时,正确调节仪器扫描比例是为了()A、缺陷定位B、缺陷定量C、判定缺陷反射波和缺陷波D、以上A和C

考题 A型显示的探伤仪评定缺陷大小可利用的信息有()。A、缺陷的反射波高、被反射的损失和自表面测得的缺陷延伸度B、缺陷的反射波高C、被反射的损失和自表面测得的缺陷延伸度D、自表面测得的缺陷延伸度

考题 超声波探伤,根据仪器示波屏上显示的缺陷回波进行探伤的方法称为()。

考题 用2.5MHZ.Φ14mm直探头探伤一锻件,200mm处Φ2平底孔回波相对波幅为6dB,探伤中在100mm处发现一缺陷回波,波幅为22dB,求此缺陷的当量大小()。A、1.5mmB、2mmC、2.5mmD、3mm

考题 缺陷的形状对缺陷回波幅度有较大影响,当声程和直径都相等时,缺陷波高以()形为最高,()形次之,()形最低。

考题 焊缝探伤中发现位于()的缺陷要测定缺陷波的幅度和指示长度。A、定量线B、定量线以上C、定量线下10%D、定量线以下

考题 判断题在焊缝探伤中干扰回波也可作为缺陷波。A 对B 错

考题 判断题在超声波检测法测量缺陷大小中,将工件中的自然缺陷回波与试块上的人工缺陷回波进行比较来对缺陷定量的方法被称作当量AVG曲线法。A 对B 错

考题 单选题对球墨铸铁探伤时,可采用下列哪种方法判断铸件质量()A 底面回波次数B 杂波高度C 缺陷波幅度D 缺陷波占宽

考题 单选题射线探伤对零件内部缺陷进行定性、定量和定位分析的依据是().A 缺陷数据B 缺陷影像C 缺陷波形D 射线衰减程度

考题 单选题在同样的检测条件下,当自然缺陷反射回波与某人工规则反射体回波等高时,则该人工规则反射体的尺寸就是此自然缺陷的()。A 实际尺寸B 检测尺寸C 显示尺寸D 当量尺寸

考题 填空题缺陷的形状对缺陷回波幅度有较大影响,当声程和直径都相等时,缺陷波高以()形为最高,()形次之,()形最低。

考题 单选题焊缝探伤中发现位于()的缺陷要测定缺陷波的幅度和指示长度。A 定量线B 定量线以上C 定量线下10%D 定量线以下

考题 判断题标定是以某些人工规则反射体的反射波高作为基准,对缺陷进行定量的方法。A 对B 错

考题 单选题A型显示的探伤仪评定缺陷大小可利用的信息有()。A 缺陷的反射波高、被反射的损失和自表面测得的缺陷延伸度B 缺陷的反射波高C 被反射的损失和自表面测得的缺陷延伸度D 自表面测得的缺陷延伸度

考题 单选题焊缝斜角探伤时,正确调节仪器扫描比例是为了()A 缺陷定位B 缺陷定量C 判定缺陷反射波和缺陷波D 以上A和C

考题 多选题以下哪些缺陷尺寸的评定方法适用于焊缝等横波检测()A缺陷回波高度与底面回波高度比较B缺陷回波高度与参考反射体回波高度比较C以缺陷回波高度与基准波高的分贝差计算当量D缺陷指示长度测定

考题 判断题在同样的检测条件下,当自然缺陷的反射回波,与某人工规则反射体的反射回波等高时,则该人工规则反射体的尺寸,就是此自然缺陷的实际尺寸。A 对B 错

考题 单选题焊缝斜角探伤时,正确调节仪器扫描比例时为了:()A 缺陷定位B 缺陷定量C 判定结构反射波和缺陷波D 以上A和C