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电子元器件的寿命试验属于（ ）。
A.全数检验 B.破坏性试验 C.最终检验 D.流动检验

参考答案

参考解析
解析：破坏性检验是指将被检样品破坏（如在样品本体上取样）后才能进行检验；或者在检验过程中，被检样品必然会损坏和消耗。破坏性检验包括：①零件的强度试验； ②电子元器件的券命试验；③电器产品的周期湿热试验；④纺织品或材料的强度试验等等。
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