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使用2.5兆赫、Φ20毫米直探头探测如右图所示的筒体锻件，探测时以筒体内表面作参考反射体，起始灵敏度为Φ2毫米平底孔，波高40%，此时的校验分贝和探测分贝各为()

A.32.8分贝和0分贝
B.35分贝和0分贝
C.39分贝和0分贝
D.38分贝和0分贝

参考答案

参考解析
解析：
更多 “使用2.5兆赫、Φ20毫米直探头探测如右图所示的筒体锻件，探测时以筒体内表面作参考反射体，起始灵敏度为Φ2毫米平底孔，波高40%，此时的校验分贝和探测分贝各为()A.32.8分贝和0分贝 B.35分贝和0分贝 C.39分贝和0分贝 D.38分贝和0分贝” 相关考题
考题 在正常探伤灵敏度下，从探测表面到最近可探反射体的距离，称为仪器的探测盲区。 （ ）此题为判断题(对，错)。
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考题 灵敏度的基本要素是基准反射体的几何尺寸、基准反射体的最大探测距离、基准反射体的基准反射波高。
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考题 对饼形锻件采用纵波直探头作径向探测是最佳的检测方法。
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考题 探测饼类锻件时，常采用下列哪种人工反射体来调整灵敏度（）A、平底孔B、横通孔C、矩形槽D、V型槽
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考题 锻件超声波探伤时，探测灵敏度的校验可以使用（）A、AVG曲线B、参考试块C、工件的大平底D、以上都是
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考题 筒形锻件最主要探测方向是：（）A、直探头端面和外圆面探伤B、直探头外圆面轴向探伤C、斜探头外圆面轴向探伤D、以上都是
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考题 探测环类锻件时，常采用下列哪种人工反射体来调整灵敏度（）A、平底孔B、V型或矩形槽C、横孔D、A和B
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考题 使用斜探头对轴类锻件作圆柱面轴向探测时，探头应用正反两个方向扫查。
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考题 用直探头对轴类锻件（）作径向探测时，有时会出现三角反射波，两次三角反射波总是位于（）之后，声程分别为（）d和（）d。
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考题 对饼形锻件，采用纵波直探头作径向探测是最佳检测方法
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考题 对饼形锻件，采用直探头作径向探测是最佳的探伤方法。（）
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考题 用直探头对直径为d的轴类锻件作径向探测时，有时会出现三角反射波。两次三角反射波总是位于（）之后，声程分别为（）d和（）d。
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考题 在正常探伤灵敏度下，从探测表面到最近可探反射体的距离，称为仪器的探测盲区。
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考题 用2.5P20Z直探头探测厚400mm的钢试件，探测要求为直径φ4mm当量平底孔直径，试用底面法调整探伤灵敏度。（CL＝5900m/s）
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考题 使用斜探头对轴类锻件作园柱面轴向探测时，探头应作正反两个方向扫查。
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考题 用2.5MHz，Φ20mm直探头探伤，试求200mm处Φ5平底孔与300mm处Φ2平底孔的分贝差。
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考题 填空题用直探头对直径为d的轴类锻件作径向探测时，有时会出现三角反射波。两次三角反射波总是位于（）之后，声程分别为（）d和（）d。
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考题 问答题用2.5P20Z直探头探测厚400mm的钢试件，探测要求为直径φ4mm当量平底孔直径，试用底面法调整探伤灵敏度。（CL＝5900m/s）
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考题 判断题使用斜探头对轴类锻件作园柱面轴向探测时，探头应作正反两个方向扫查。A 对B 错
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考题 判断题灵敏度的基本要素是基准反射体的几何尺寸、基准反射体的最大探测距离、基准反射体的基准反射波高。A 对B 错
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考题 判断题使用斜探头对轴类锻件作圆柱面轴向探测时，探头应用正反两个方向扫查。A 对B 错
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考题 单选题筒形锻件最主要探测方向是：（）A 直探头端面和外圆面探伤B 直探头外圆面轴向探伤C 斜探头外圆面轴向探伤D 以上都是
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考题 填空题用直探头对轴类锻件（）作径向探测时，有时会出现三角反射波，两次三角反射波总是位于（）之后，声程分别为（）d和（）d。
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考题 单选题同直径的三个平底孔处于同一试块中，但深度分别为100、200和300mm，在用直探头以相同探伤灵敏度下探测时，回波最高的平底孔深度为（）。A 100mmB 200mmC 300mmD 都相同
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考题 判断题在正常探伤灵敏度下，从探测表面到最近可探反射体的距离，称为仪器的探测盲区。A 对B 错
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考题 单选题探测环类锻件时，常采用下列哪种人工反射体来调整灵敏度（）A 平底孔B V型或矩形槽C 横孔D A和B
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考题 单选题探测饼类锻件时，常采用下列哪种人工反射体来调整灵敏度（）A 平底孔B 横通孔C 矩形槽D V型槽
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