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关于P控制图的说法，正确的有（ ）。
A.用于控制过程的不合格品率
B.当每个子组的大小不同时，常规P图的控制限呈凹凸状
C.如果每个子组的大小都等于n，则n越大，控制限越宽
D.统计基础为二项分布
E.当用标准化打点值的方法时，上下控制限为±3
参考答案
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考题
有关P图的叙述正确的是()。
A.p控制图的统计控制状态是指过程的不合格品率为一常数p，且各个产品的生产是独立的B.如果ni变化不大，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制C.当ni变化较大时，可采用标准化变量的方法D.若ni不全相等，则p控制图的Lc、LP和UCLP是凹凸状的
考题
下列关于p图的描述正确的有( )。A．P图的统计基础是泊松分布B．如果ni变化不大，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线C．当ni变化较大时，可采用标准化变量的方法D．若ni不全相等，则p控制图的LCLp和UCLp是凹凸状的E．p图是控制过程的合格品率p的控制图
考题
在p控制图中，若每个子组ni不全相等，则p控制图的上下控制线是凹凸状，对此 GB/T 4091—2001提出的解决方法有( )。A．当ni变化不大时，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线B．当ni变化较大时，可采用标准化变量的方法C．选样本量充分大，使得每个子组平均有一个不合格品D．不标出LCL控制线E．不标出UCL和LCL控制线
考题
关于常规计量控制图与P图的对比，正确的有（ ）。A.计量控制图子组大小要求较大B.计量控制图子组大小要求较小C.计量控制图要求、测量出具体量值D.计量控制图适用于控制多个特性的场合E.P图更为灵敏
考题
下列有关p图的叙述正确的有( )。A．P图的统计基础是泊松分布B．如果ni变化不大，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线C．当ni变化较大时，可采用标准化变量的方法D．若ni不全相等，则户控制图的LCLp和UCLp是凹凸状的E．p图是控制过程的合格品率P的控制图
考题
关于p控制图的说法，正确的有（ ）。A.P图是控制生产过程的加工时间的控制图B.P图是控制生产过程的不合格品率的控制图C.P图中的各个子组大小可以不相等D.P图的统计基础是二项分布E.P图的统计基础是泊松分布
考题
关于控制图选用的说法,正确的有( )。A.当子组样本量较大时,为方便计算应选取均值一极差图SXB
关于控制图选用的说法，正确的有（ ）。A.当子组样本量较大时，为方便计算应选取均值一极差图B.对于计数控制图，当样本量不同时应选择P图或u图C.当控制对象为计件值时应选择C图或"图D.计量控制图比计数控制图效率高，应尽量选用计量控制图E.样本难以获取或检验费用过高的场合适宜选择单值控制图
考题
下列关于p图的描述正确的有（ ）。A. p图的统计基础是泊松分布
B.如果ni变化不大，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线
C.当ni变化较大时，可采用标准化变量的方法
D.若ni不全相等，则p控制图的LCLp和UCLp是凹凸状的
E. p图是控制过程的合格品率p的控制图
考题
下列选择适宜控制图进行过程监控的做法中，正确的有（ ）。
A.对于产品质量稳定、均匀的过程可以选用单值图
B.计量控制图的检出力高于计数控制图
C.计量控制图与计数控制图具有相同的控制时效性
D.使用X-R图时样本量（子组大小）宜取4或5
E.使用p图和u图时样本量（子组大小）必须为常数
考题
关于过程状态的说法，正确的有（ ）。
A.在统计控制状态下，可以预测过程波动的大小
B.当过程处于失控状态时，过程的分布将发生改变
C.过程处于统计控制状态时，CP≥1
D.异常因素会导致过程失控
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判断过程一定处于统计控制状态
考题
-s图的绘图步骤包括（ ），延长统计控制状态下的-s控制图的控制限，进入控制用控制图阶段，实现对过程的日常控制。 A.依据合理子组原则，取得预备数据
C.计算-s图的控制限，绘制控制图
D.与容差限比较，计算过程能力指数
E.检验过程能力指数是否满足技术要求
考题
如果某过程的过程能力指数Cp = Cpk = 1.33，利用单值控制图对过程进行监控， 则关于该控制图控制限与规范限关系的说法，正确的是（ ）。
A.上下控制限间的距离与上下规范限间的距离相同
B.上下规范限间的距离约为上下控制限距离的2倍
C.上下控制限间的距离约为上下规范限距离的1. 33倍
D.上下规范限间的距离约为上下控制限距离的1. 33倍
考题
下列关于p控制图的叙述中，正确的有（ ）。[2008年真题]
A. p图是控制生产过程的加工时间的控制图
B. p图是控制生产过程的不合格品率的控制图
C. p图中的各个子组大小可以不相等
D. p图的统计基础是二项分布
E. p图的统计基础是泊松分布
考题
关于控制图控制限的说法，正确的有（）。
A.分析用控制图的控制限与图上样本点的数值无关
B.收集的子组个数越多，控制限估计得越准确
C.控制用控制图的控制限由分析用控制图的控制限转化而来
D.控制用控制图的控制限一旦确定，就不能变更
E.可以用规范限代替控制限
考题
关于不合格品率控制图的说法，正确的有（ ）。
A.子组大小可以不相等
B.子组大小相等时控制限为凹凸状，无法判异
C.多用于控制产品外观瑕疵点的变化
D.用于分析过程不合格品率的波动
E.理论基础是指数分布
考题
关于p控制图的说法，正确的有（）。
A. p图是控制生产过程的加丁时间的控制图
B. p图是控制生产过程的不合格品率的控制图
C. p图中的各个子组大小可以不相等
D. p图的统计基础是二项分布
E.p图的统计基础是泊松分布
考题
关于p控制图的说法，正确的有（ ）。
A.用于控制过程的不合格品率
B.当每个子组的大小不同时，常规p图的控制限呈凹凸状
C.如果每个子组的大小都等于n，则n越大，控制限越宽
D.统计基础为二项分布
E.当用标准化打点值的方法时，上下控制限为±3
考题
关于控制图选用的说法，正确的有（）。
A.当子组样本量较大时，为方便计算应选取均值-极差图
B.对于计数控制图，当样本量不同时应选择p 图或u图
C.当控制对象为计件值时应选择c图或u图
D.计量控制图比计数控制图效率高，应尽量选用计量控制图
E.样本难以获取或检验费用过高的场合适宜选择单值控制图
考题
关于所使用的控制用控制图的说法，正确的有（）。
A.均值图上的控制上限为公差上限4.1，控制下限为公差下限3. 9
B.均值图上的描点为每个子组内5个轴承内径数值的平均值
C.标准差图上的描点为每个子组内5个轴承内径数值的标准差
D.如果有点子出界，则需重新修订控制限
考题
使用控制用均值一极差控制图监控过程时，若根据某子组数据计算的样本点落在控制限外，则（ ）。
A.需要重新计算控制限
B.该子组中一定有不合格品
C.可判定过程处于统计失控状态
D.不能拒绝过程处于统计控制状态这个假设
考题
下列关于控制图的控制限的描述中，正确的有（ ）。
A.对于同样的样本数据，选择不同类型的控制图，得到的控制限也不同
B.控制用控制图的控制限一旦确定，就不能变更
C.收集的样本子组数越多，计算得到的控制限估计得越准确
D.分析用控制图的控制限与图上样本点的数值无关
E.控制用控制图的控制限是由分析用控制图的控制限转化而来的
考题
关于常规计量控制图与图的对比，正确的有（ ）。
A.计量控制图子组大小要求较大
B.计量控制图子组大小要求较小
C.计量控制图要求测量出具体量值
D.计量控制图适用于控制多个特性的场合
E. p图更为灵敏
考题
在p控制图中，若每个子组不全相等，则P控制图的上下控制线是凹凸状，对此GB/T 4091—2001提出的解决方法有（ ）。
A.当ni 变化不大时，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线
B.当ni 变化较大时，可采用标准化变量的方法
C.选样本量充分大，使得每个子组平均有一个不合格品
D.不标出LCL控制线
E.不标出UCL和LCL控制线
考题
多选题在p控制图中，若每个子组ni不全相等，则p控制图的上下控制线是凹凸状，对此GB/T 4091—2001提出的解决方法有（ ）。A当ni变化不大时，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线B当ni变化较大时，可采用标准化变量的方法C选样本量充分大，使得每个子组平均有一个不合格品D不标出LCL控制线E不标出UCL和LCL控制线
考题
多选题下列关于p图的描述正确的有（ ）。Ap图的统计基础是泊松分布B如果ni变化不大，则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线C当ni变化较大时，可采用标准化变量的方法D若ni不全相等，则p控制图的LCLp和UCLp是凹凸状的Ep图是控制过程的合格品率P的控制图
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