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环境样品中,基体是指()。

  • A、待测污染物
  • B、大量存在的其他物质
  • C、缓冲溶液
  • D、所有物质

参考答案

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考题 样品采取后,如果路途遥远,应根据样品种类将不需冷冻样品保持在( )。A、1℃~5℃环境中B、5℃~8℃环境中C、8℃~10℃环境中D、10℃~15℃环境中E、15℃~20℃环境中

考题 食品样品采取后,如不能立即检验,应将不需冷冻样品保存在A、4~8℃环境中B、1~5℃环境中C、8~10℃环境中D、4~10℃环境中E、1~10℃环境中

考题 样品预处理的目的是A、去除样品中的杂质B、富集待测物C、排除样品中的干扰D、提高分析仪器的灵敏度E、消除样品中待测物与基体的反应

考题 样品预处理不能( )。A、排除样品中的干扰B、去除样品中的杂质C、提高分析仪器的灵敏度D、富集待测物E、消除样品中待测物与其基体的反应

考题 在测定待测物前,样品进行预处理的根据是( )。A.检测的要求和样品的性状 B.检测方法和所用仪器 C.检测方法的灵敏度 D.样品中待测物的含量 E.样品所含基体成分

考题 石墨炉对光的正确方法是怎样的?对食品样品中的硫酸根和磷酸跟选用那种基体改进基效果好

考题 用石墨炉(氘灯扣背景)原子吸收测植物样品中的铬?基体改进剂都用的什么?是不是一定要用基体改进剂?我的植物样用不同浓度的铬溶液培养的蔬菜,样品量比较少。准备用硝酸和高氯酸进行消化测定其中铬的含量

考题 基体改进剂是()。A、加在样品中的一种试剂B、用化学的方法改变样品的基体组成C、改变被分析元素的挥发性和/或基体结构,降低干扰

考题 下列情形中不适宜使用“外标法”定量分析的是()。A、样品中有的组分不能检出B、样品不能完全分离C、样品待测组分多D、样品基体较复杂

考题 X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。

考题 在原子吸收分光光度法中,标准加入法最大的优点是()。A、不需要作工作曲线B、可进行大量样品分析C、消除样品基体干扰D、不用严格控制操作条件

考题 在用石墨炉原子吸收光谱法测定含有机物高的样品中的铅时,样品加入基体改进剂的目的是提高干燥温度

考题 在用石墨炉原子吸收光谱法测定食品中的铅时,样品加入基体改进剂的目的是提高灰化温度

考题 基体效应包括吸收和增强两种效应。消除基体效应的方法有()法等。A、稀释B、薄膜样品C、吸收校正D、数学处理

考题 在X射线荧光光谱分析中,样品中除分析元素以外的全部元素为基体,基体元素对分析元素的影响叫基体效应。

考题 石墨炉原子吸收分光光度法测定环境空气中铅时,若样品背景值很高,可以考虑加入()作为基体改进剂,适当提高灰化温度,消除基体干扰。

考题 单选题样品预处理是为了()。A 去除样品中的杂质B 富集待测物C 提高分析仪器的灵敏度D 排除样品中的干扰E 消除样品中待测物与其基体的反应

考题 填空题石墨炉原子吸收分光光度法测定环境空气中铅时,若样品背景值很高,可以考虑加入()作为基体改进剂,适当提高灰化温度,消除基体干扰。

考题 判断题在用石墨炉原子吸收光谱法测定含有机物高的样品中的铅时,样品加入基体改进剂的目的是提高干燥温度A 对B 错

考题 问答题石墨炉对光的正确方法是怎样的?对食品样品中的硫酸根和磷酸跟选用那种基体改进基效果好

考题 判断题基体效应是指样品基体的组成成分等对待测组分测定的影响。A 对B 错

考题 单选题样品预处理不能()。A 去除样品中的杂质B 富集待测物C 提高分析仪器的灵敏度D 排除样品中的干扰E 消除样品中待测物与其基体的反应

考题 单选题火焰原子吸收光谱法测定环境样品中的钙和镁时,如发现样品基体(PO和Si)对其测定有干扰,通常多用()予以消除,使其灵敏度得到提高。A 释放剂锶(Sr)或镧(LA)盐B 抑制剂铯(Cs)盐和锂(Li)盐C 保护剂EDTA

考题 多选题样品预处理的目的是()A去除样品中的杂质B富集待测物C排除样品中的干扰D提高分析仪器的灵敏度E消除样品中待测物与基体的反应

考题 单选题样品采取后,如果路途遥远,应根据样品种类将不需冷冻样品保持在()。A 1℃~5℃环境中B 5℃~8℃环境中C 8℃~10℃环境中D 10℃~15℃环境中E 15℃~20℃环境中

考题 多选题基体改进剂是()。A加在样品中的一种试剂B用化学的方法改变样品的基体组成C改变被分析元素的挥发性和/或基体结构,降低干扰

考题 单选题食品微生物检验的样品采取后,应根据样品种类将不需冷冻的样品保持在(  )。A 0~4℃环境中B 1~5℃环境中C 0~8℃环境中D 4~8℃环境中E 4~10℃环境中