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用倒相法消除外电场对tgδ测量的干扰,需要先在试验电源正、反相两种极性下,测量两组数据:C1tgδ1、C2tgδ2,然后按公式()计算出试品的实际的tgδ值。

  • A、tgδ=(tgδ1+tgδ2)/2
  • B、tgδ=(C1tgδ1+C2tgδ2)/(C1-C2)
  • C、tgδ=(C1tgδ1+C2tgδ2)/(C1+C2)
  • D、tgδ=(C2tgδ1+C1tgδ2)/(C1+C2)

参考答案

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考题 测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,消除电场干扰影响的方法中利用改变试验电源的相位,使外电场的干扰产生相反的结果,再对选相倒相前后各次测试所得数据进行计算,选取误差较小的tanδ值的方法称为()。 A.屏蔽法B.选相倒相法C.移相法

考题 减小电桥测量时的影响因素的措施:()。 A.加设屏蔽B.采用移相电源C.采用倒相法D.消除磁场干扰方法

考题 测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,消除电场干扰影响的方法中使用移相器改变试验电压的相位,在试验电流与干扰电流相同和相反两种情况下分别测量tanδ的方法称为移相法。A对B错

考题 测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,消除电场干扰影响的方法中利用外加的特制可调电源,向测量回路上施加一个反干扰电压,使电桥平衡后再加试验电压的方法称为屏蔽法。A对B错

考题 测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,消除电场干扰影响的方法中利用改变试验电源的相位,使外电场的干扰产生相反的结果,再对选相倒相前后各次测试所得数据进行计算,选取误差较小的tanδ值的方法称为选相倒相法。A对B错

考题 现场用QSI型西林电桥测量设备绝缘的tgδ,当出现较大电场干扰时,则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下,所测得的tgδ值大。

考题 测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,消除电场干扰影响的方法中使用移相器改变试验电压的相位,在试验电流与干扰电流相同和相反两种情况下分别测量tanδ的方法称为移相法。

考题 使用QS1型交流电桥测量tanØ时,现场采用排除电场干扰的方法有以下几种()A、提高试验电压B、采用正接线方法C、用电桥内部“选相”、“倒相”法接线,排除干扰源对电源相位的干扰D、在被试设备上加装屏蔽罩

考题 测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,消除电场干扰影响的方法中利用改变试验电源的相位,使外电场的干扰产生相反的结果,再对选相倒相前后各次测试所得数据进行计算,选取误差较小的tanδ值的方法称为选相倒相法。

考题 现场用西林电桥测量设备绝缘的介质损耗因数,出现试验电源与干扰电源不同步,电桥测量无法平衡时,应采用的正确方法是()A、桥体加反干扰源B、将试验电源移相或选相、倒相C、改用与干扰源同步的电源作试验电源D、将电桥移位,远离干扰源

考题 在有强电场干扰的现场,测量试品介质损耗因数tgδ,有多种抗干扰测量方法,并各有一定的局限性,但下列项目()的说法是错的A、选相倒相法:正、反相测得值的差别较大,有时可达±50%及以上;B、外加反干扰电源补偿法:补偿电源与干扰信号间的相位有不确定性C、变频测量方法:测量的稳定性、重复性及准确性较差D、过零比较"检测方法:测量结果的分散性稍大

考题 现场用QS1型西林电桥测量设备绝缘的tg∮,当出现较大电场干扰时,则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下,所测得的tg∮值均比真实的tg∮值大。

考题 介质损耗角正切值测量时,采用移相法可以消除()的干扰。A、高于试验电源频率B、与试验电源同频率C、低于试验电源频率

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考题 在有强电场干扰的现场,测量试品介质损耗因数tgδ,有多种抗干扰测量方法,并各有一定的局限性,但下列项目()的说法是错的。A、选相倒相法:正、反相测得值的差别较大,有时可达±50%及以上B、外加反干扰电源补偿法:补偿电源与干扰信号间的相位有不确定性C、变频测量方法:测量的稳定性、重复性及准确性较差

考题 在有强电场干扰的现场,测量试品介质损耗因数,有多种抗干扰测量方法,并各有一定的局限性,但下列项目()的说法是正确的。A、选相倒相法:正、反相测得值的差别较大,有时可达±50%及以上B、外加反干扰电源补偿法:补偿电源与干扰信号间的相位有不确定性C、变频测量方法:测量的稳定性、重复性及准确性较差D、“过零比较”检测方法:测量结果的分散性稍大

考题 介质损耗因数测量中,采用移相法可以消除()干扰。A、高于电源试验频率B、低于电源试验频率C、与试验电源同频率D、任何频率

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考题 判断题测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时,消除电场干扰影响的方法中利用改变试验电源的相位,使外电场的干扰产生相反的结果,再对选相倒相前后各次测试所得数据进行计算,选取误差较小的tanδ值的方法称为选相倒相法。A 对B 错

考题 单选题介质损耗角正切值测量时,采用移相法可以消除()的干扰。A 高于试验电源频率B 与试验电源同频率C 低于试验电源频率D 任何频率