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可靠性试验要素有()。

  • A、试验条件
  • B、试验时间
  • C、样品抽取
  • D、故障判别原则
  • E、试验数据处理

参考答案

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考题 可靠性试验一般分为工程试验和统计试验,下述属于工程试验的是( )。A.环境应力筛选试验B.可靠性鉴定试验C.产品性能试验D.可靠性验收试验E.可靠性增长试验

考题 下列关于可靠性试验的说法,正确的有( )。A.可靠性试验是对产品的可靠性进行调查、分析和评价的一种手段,目的是使产品可靠性增长B.环境应力筛选试验不但可以提高产品的固有可靠性,还可以提高产品的可靠性水平C.可靠性增长试验本身并不能提高产品的可靠性,只有采取了有效的纠正措施产品的可靠性才能真正提高D.可靠性测定试验的目的是通过试验测定产品的可靠性水平E.可靠性验收试验的目的是对产品合格与否做出判定

考题 可靠性试验一般可分为工程试验和统计试验。工程试验包括( )、可靠性增长试验。A.环境应力筛选试验B.可靠性鉴定试验C.可靠性测定试验D.可靠性验收试验

考题 下列关于可靠性增长试验的说法正确的是( )。A.可靠性增长试验是一个在规定的环境应力下,为暴露产品薄弱环节而进行的试验B.可靠性增长试验是通过发现故障、分析和纠正故障以及对纠正措施的有效性进行验证以提高产品可靠性水平的过程C.可靠性增长试验一般称为试验______改进______分析D.顾名思义,可靠性增长试验本身就能提高产品的可靠性

考题 可靠性试验一般可分为工程试验和统计试验,统计试验包括( )。A.环境应力试验B.可靠性增长试验C.可靠性鉴定试验D.可靠性验收试验E.可靠性测定试验

考题 可靠性验收试验要求与可靠性鉴定试验的()相同A、试验方案B、样本量C、试验样品D、综合试验环境

考题 可靠性试验可分为工程试验和( )。A.统计试验B.可靠性鉴定试验C.可靠性验收试验D.可靠性增长试验

考题 关于不同可靠性试验类型的说法,正确的有( )。 A.环境应力筛选试验可以剔除早期故障 B.可靠性增长试验可以提高产品可靠性 C.加速寿命试验是在超过正常应力水平下进行的寿命试验 D.可靠性鉴定试验是用具有代表性的产品在规定条件下所做的验证试验 E.可靠性验收试验用于发现设计缺陷

考题 可用于剔除不良元器件,减少早期故障的可靠性试验是( ) A.可靠性增长试验 B.环境应力筛选试验 C.可靠性测定试验 D.可靠性鉴定试验

考题 影响硬件与软件可靠性的因素有哪些?

考题 可靠性增长试验的方式有()A、试验--改进--再试验B、试验--发现问题--再试验C、待延缓改进试验--改进--再试验D、可靠性描述

考题 关于诊断试验可靠性的评价,以下哪些说法正确()A、可靠性高,说明试验随机误差小B、可靠性高,说明试验系统误差小C、可靠性指相同条件下同一试验对相同人群重复试验获得相同结果的稳定程度D、当某试验进行定量测定时,可用变异系数来评价其可靠性E、当某试验进行定性测定时,可用符合率来评价其可靠性

考题 可靠性研制试验中高于实际使用应力条件的试验有()。A、可靠性增长摸底试验B、可靠性摸底试验C、可靠性强化试验D、高加速寿命试验

考题 田间试验的基本要求中,试验目的要()。A、有代表性B、有可靠性C、明确D、有重演性

考题 半导体产品的烤机试验,将产品暴露在高温下,来强制缺陷发生,这种可靠性试验属于()A、可靠性测定试B、可靠性鉴定试验C、可靠性验收实验D、环境应力筛选试验

考题 影响作业可靠性的因素有哪些?

考题 可靠性试验要素有哪些?

考题 可靠性增长试验的相关问题有()。A、可靠性增长试验的适用范围B、可靠性增长试验对受试产品的要求C、可靠性增长试验的选择D、可靠性增长试验与可靠性增长试验与可靠性鉴定试验的关系E、可靠性增长试验的随机性

考题 设备可靠性与哪些因素有关?

考题 单选题下列关于可靠性试验的表述错误的是(  )。A 可靠性试验是实验室的试验B 环境应力筛选试验不能提高产品固有可靠性,但通过改进设计和工艺等可以提高产品的可靠性水平C 可靠性增长试验是通过发现故障,分析和纠正故障,以及对纠正措施的有效性进行验证以提高产品可靠性水平的过程D 可靠性测定试验的目的是通过试验测定产品的可靠性水平

考题 单选题可靠性试验可分为工程试验和(  )。A 统计试验B 可靠性鉴定试验C 可靠性验收试验D 可靠性增长试验

考题 单选题可靠性鉴定试验的目的是(  )。A 为了验证开发的产品可靠性是否与规定的可靠性要求一致B 为环境应力筛选试验作准备C 为进行可靠性增长试验服务D 对可靠性验收试验进行鉴定

考题 多选题可靠性试验一般分为工程试验和统计试验,下述属于工程试验的是(  )。A环境应力筛选试验B可靠性鉴定试验C产品性能试验D可靠性验收试验E可靠性增长试验

考题 多选题可靠性增长试验的方式有()A试验--改进--再试验B试验--发现问题--再试验C待延缓改进试验--改进--再试验D可靠性描述

考题 单选题半导体产品的烤机试验,将产品暴露在高温下,来强制缺陷发生,这种可靠性试验属于()A 可靠性测定试验B 可靠性鉴定试验C 可靠性验收实验D 环境应力筛选试验

考题 多选题可开展的可靠性试验包括(  )。A产品功能试验B环境应力筛选试验C可靠性增长试验D可靠性鉴定试验

考题 多选题可靠性测定试验目的是测定产品的可靠性水平,方法是投入若干产品进行寿命试验,可分为(  )。A可靠性增长试验B定时截尾试验C恒定应力加速寿命试验D定数截尾试验E环境应力试验