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如何快速判断CT机阵列处理器故障引起的环形伪影?


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考题 由CT探测器造成的伪影,常见于()。A.放射伪影B.模糊伪影C.环形伪影D.运动伪影E.斜形伪影

考题 关于CT伪影的叙述,错误的是A、伪影通常无法去除B、伪影使图像质量下降C、伪影有时会引起误诊D、伪影是CT扫描图像中的一种异影E、由系统引起的伪影是不可避免的

考题 CT机的存储器不包括A、硬磁盘B、磁带C、软盘D、光盘E、阵列处理器/机

考题 如何判断CT机阵列处理器故障引起的环形伪影?

考题 由CT探测器造成的伪影,常见于()A、放射伪影B、模糊伪影C、环形伪影D、运动伪影E、斜形伪影

考题 与重建时间无关的是:()A、重建矩阵B、阵列处理器运算速度C、内存容量D、运动伪影E、重建算法

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考题 第三代CT机中如何判断由DSA系统产生单环状伪影的故障点?

考题 射线束硬化伪影出现的原因是()A、射线束的吸收误差B、杯状伪影的结果C、CT机的线性误差D、CT机的均匀性不良E、尖峰伪影的结果

考题 关于CT图像中伪影形成原因的叙述,下列哪项不对()A、放射状伪影:高密度物质所致B、杂乱伪影:重建过程故障所致C、环形伪影:数据采集系统故障所致D、假皮层伪影:扫描过程中患者运动所致E、条状伪影:CT采样过程中X线强度突然发生变化

考题 如何判断阵列处理机系统工作不正常引起的环形伪影?

考题 关于CT图像中伪影形成的因素,下列描述哪项不对( )A、条状伪影:CT采样过程中X线强度突然发生变化B、折叠伪影:扫描过程中不自主运动所致C、杂乱伪影:重建过程故障所致D、放射状伪影:高密度金属所致E、环形伪影:数据采集系统故障所致

考题 CT扫描常见的伪影有()A、环形伪影B、放射状伪影C、月牙状伪影D、条纹状伪影E、以上全不是

考题 关于CT伪影的叙述,错误的是()A、伪影通常无法去除B、伪影使图像质量下降C、伪影有时会引起误诊D、伪影是CT扫描图像中的一种异常影像E、由系统引起的伪影是不可避免的

考题 单选题与重建时间无关的是:()A 重建矩阵B 阵列处理器运算速度C 内存容量D 运动伪影E 重建算法

考题 单选题关于CT透视扫描的图像重建问题,错误的是(  )。A 硬件设备主要有快速运算单元、高速存储器、反投影门控阵列处理器B 不采用数据内插算法C 存在一定的伪影D 图像的显像通常采用电影显示模式E CT透视主要采用360°数据替代方法重建图像

考题 问答题CT机扫描时高压发生器内阳极侧有打火声并伴有图像伪影,如何排除故障?

考题 单选题由CT探测器造成的伪影,常见于()A 放射伪影B 模糊伪影C 环形伪影D 运动伪影E 斜形伪影

考题 单选题下列哪种伪影是由致密结构或金属引起的(  )。A 条纹状伪影B 环形伪影C 放射状伪影D 图像杂乱伪影E 以上都不是

考题 多选题CT扫描常见的伪影有()A环形伪影B放射状伪影C月牙状伪影D条纹状伪影E以上全不是

考题 问答题试分析CT机数据采集系统(DAS)产生环形伪影的原因及处理。

考题 问答题如何判断阵列处理机系统工作不正常引起的环形伪影?