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下列组合中错误的是
A.RMS——颗粒性
B.DQE——噪声等价量子数
C.MTF——分辨力
D.WS——维纳频谱
E.ROC—受试者操作特性曲线
参考答案
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考题
关于X线照片颗粒性测量的叙述,错误的是A.主观性颗粒质量—肉眼观察获得的颗粒状况B.客观性颗粒质量—物理学检查的颗粒状况C.常用的检测方法有RMS的测量D.常用的检测方法有维纳频谱的测量E.MTF用来测量颗粒度
考题
关于维纳频谱的叙述,错误的是A、维纳频谱即Wiener spectrum,(WS)B、△D(x)的自相关函数的付氏变换为WSC、用WS分析形成X线照片斑点的原因D、维纳频谱可以确定不同频率的RMSE、维纳频谱也称量子检出效率
考题
对X线照片颗粒性测量的叙述,错误的是A、主观性颗粒质量-肉眼观察获得的颗粒状况B、客观性颗粒质量-物理学检查的颗粒状况C、常用的检测方法有RMS的测量D、常用的检测方法有维纳频谱的测量E、MTF用米测量颗粒度
考题
对X线照片颗粒性测量的叙述,错误的是A.主观性颗粒质量——肉眼观察获得的颗粒状况B.客观性颗粒质量——物理学检查的颗粒状况C.常用的检测方法有RMS的测量D.常用的检测方法有维纳频谱的测量E.MTF用来测量颗粒度
考题
下列组合错误的是A.RMS-颗粒性
B.DQE-噪声等价量子数
C.MTF-分辨力
D.WS-维纳频谱
E.ROC-受试者操作特性曲线
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