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下列组合错误的是
A、RMS--颗粒性
B、DQE--噪声等价量子数
C、MTF--分辨力
D、WS--维纳频谱
E、ROC--受试者操作特性曲线
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考题
关于X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是A.主观性颗粒质量—肉眼观察获得的颗粒状况B.客观性颗粒质量—物理学检查的颗粒状况C.常用的检测方法有RMS的测量D.常用的检测方法有维纳频谱的测量E.MTF用来测量颗粒度
考题
所谓X线照片噪声,是指A.荧光体颗粒B.乳剂银颗粒C.银颗粒、荧光体颗粒组合SX
所谓X线照片噪声，是指A.荧光体颗粒B.乳剂银颗粒C.银颗粒、荧光体颗粒组合D.X线照片斑点E.X线照片的颗粒度
考题
关于维纳频谱的叙述，错误的是A、维纳频谱即Wiener spectrum，(WS)B、△D(x)的自相关函数的付氏变换为WSC、用WS分析形成X线照片斑点的原因D、维纳频谱可以确定不同频率的RMSE、维纳频谱也称量子检出效率
考题
对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是A、主观性颗粒质量-肉眼观察获得的颗粒状况B、客观性颗粒质量-物理学检查的颗粒状况C、常用的检测方法有RMS的测量D、常用的检测方法有维纳频谱的测量E、MTF用米测量颗粒度
考题
对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是A．主观性颗粒质量——肉眼观察获得的颗粒状况B．客观性颗粒质量——物理学检查的颗粒状况C．常用的检测方法有RMS的测量D．常用的检测方法有维纳频谱的测量E．MTF用来测量颗粒度
考题
下列组合错误的是A.RMS-颗粒性
B.DQE-噪声等价量子数
C.MTF-分辨力
D.WS-维纳频谱
E.ROC-受试者操作特性曲线
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