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采用换算的方法，可将某种材料制作的像质计用于不同吸收系数的材料透照时的像质评价。
参考答案
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考题
下述有关像质计特质的叙述中，不正确的是（）A、像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B、像质计形状与尺寸都是已知的C、像质计和试件一起成像，而用来鉴定试件品质的重要工具D、像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较
考题
有关像质计使用的说法正确的是（）A、摆放像质计时，摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位B、采用单壁透照法时，像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验C、当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记D、以上都对
考题
下面关于像质计的叙述中，正确的是（）A、各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式，规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法，它们之间不能简单换算B、各种像质计有自己特定的结构和细节形式，但它们测定射线照相灵敏度的方法是相同或相似的C、用不同像质计得到的射线照相灵敏度值如果相同，就意味着射线照片的影像质量相同D、以上都不对
考题
在下列叙述中，与JB/T4730.2-2005标准规定符合的是：（）A、双壁单影透照像质计放置在胶片侧B、当像质计放置在胶片侧时，应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记，“F”标记影象应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中注明C、单壁透照时允许像质计放置在胶片侧，但必须进行对比试验D、当一张胶片上同时透照多条焊接接头时，至少在第一条、中间一条和最后一条焊接接头处各放一个置像质计
考题
单选题下面关于像质计的叙述中，正确的是（）A
各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式，规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法，它们之间不能简单换算B
各种像质计有自己特定的结构和细节形式，但它们测定射线照相灵敏度的方法是相同或相似的C
用不同像质计得到的射线照相灵敏度值如果相同，就意味着射线照片的影像质量相同D
以上都不对
考题
单选题有关像质计使用的说法正确的是（）A
摆放像质计时，摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位B
采用单壁透照法时，像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验C
当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记D
以上都对
考题
单选题下述有关像质计特质的叙述中，不正确的是（）A
像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B
像质计形状与尺寸都是已知的C
像质计和试件一起成像，而用来鉴定试件品质的重要工具D
像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较
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