考题
光电峰的FWHM与射线能量之比的百分数，表示的是 ( )A、闪烁探测器的计数率特性B、闪烁探测器的能量分辨率C、闪烁探测器的探测效率D、闪烁探测器的能量线性E、闪烁探测器的空间分辨率
考题
不适合用于瞬发辐射场的探测器是()。
A、电离室B、闪烁体探测器C、热释光探测器D、计数器型探测器
考题
近距离照射放射源强度校准最好使用（）A、指型电离室B、半导体探测器C、井行电离室D、闪烁计数器E、正比计数器
考题
常用场所辐射监测仪中灵敏度最高的是（）A、电离室B、正比计数器C、GM计数器D、闪烁探测器E、半导体探测器
考题
高强度辐射场中进行精确剂量测量应使用（）A、电离室B、正比计数器C、闪烁探测器D、半导体探测器E、GM计数器
考题
灵敏度最低的是（）A、电离室B、正比计数器C、闪烁探测器D、半导体探测器E、GM计数器
考题
工业核仪表常用射线探测器有（）A、闪烁探测器B、电离室探测器C、盖革计数管
考题
以下哪个不是波长色散X射线荧光光谱仪所用的探测器？（）A、封闭式正比计数器B、流气式正比计数器C、闪烁计数器D、半导体计数器
考题
波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。A、闪烁B、半导体C、流气式D、光电倍增管
考题
放射免疫测量仪中用于探测γ射线使用的是（）。A、井型晶体计数器B、液体闪烁计数器C、放射性活度测量仪D、X射线探测器E、电离探测器
考题
密封放射检测源是否泄漏或被污染，通常使用的探测器是（）A、指型电离室B、半导体探测器C、中子探测器D、闪烁计数器E、正比计数器
考题
密封放射源检测是否泄露或被污，通常使用的探测器是（）A、指形电离室B、半导体探测器C、中子探测器D、闪烁计数器E、正比计数器
考题
以下哪一种探测器，不是利用射线在空气中电离效应原理（）A、电离室B、正比计数器C、盖革-弥勒记数管D、闪烁探测器
考题
X荧光仪中探测器通常采用（）A、光电倍增管B、闪烁计数器C、正比计数器D、NaCl晶体
考题
AxiosX荧光光谱仪的闪烁探测器的最大计数率：（）。
考题
X荧光分析中不常使用的探测器是（）。A、正比计数器B、闪烁计数器C、晶体计数器D、硅（锂）探测器
考题
在X荧光分析中不常使用的探测器是（）。A、正比计数器B、闪烁计数器C、晶体计数器D、半导体探测器
考题
X荧光光谱仪探测器的分辨率R=Q，Q为品质因子，当计数率＜20kcps时，闪烁计数器的Q＜（），充Ar流气正比计数器的Q＜（）。
考题
工业核仪表常用射线探测器有（）A、闪烁探测器B、电离室探测器C、盖革计数管D、烟雾探测器
考题
问答题由NaI（Tl）闪烁体组成的闪烁计数器探测γ射线的能量分辩率是如何定义的？一般是多少？
考题
填空题用于X射线衍射仪的探测器主要有（）、闪烁计数管、正比计数管、固体计数管，其中闪烁计数管和正比计数管应用较为普遍。
考题
单选题密封放射源检测是否泄露或被污，通常使用的探测器是（）A
指形电离室B
半导体探测器C
中子探测器D
闪烁计数器E
正比计数器
考题
问答题简要叙述半导体探测器的能量分辨率明显优于正比计数器和闪烁计数器的主要原因。
考题
单选题以下哪一种探测器，不是利用射线在空气中电离效应原理（）A
电离室B
正比计数器C
盖革-弥勒记数管D
闪烁探测器
考题
单选题光电峰的FWHM与射线能量之比的百分数表示什么（）A
闪烁探测器的计数率特性B
闪烁探测器的能量分辨率C
闪烁探测器的探测效率D
闪烁探测器的能量线性E
闪烁探测器的空间分辨率
考题
单选题放射免疫测量仪中用于探测γ射线使用的是（ ）A
井型晶体计数器B
液体闪烁计数器C
放射性活度测量仪D
X射线探测器E
电离探测器
