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适于中子照相法检出的缺陷是()

  • A、厚钢铸件中的裂纹
  • B、厚钢件中的缩孔
  • C、厚钢铸件中的熔剂夹杂
  • D、以上都是

参考答案

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考题 盲区是超声波探伤系统重要的性能指标之一,因为它关系到() A、能否检出平行于超声波束的缺陷B、能否检出位于锻件中心部位的小缺陷C、能否检出表面缺陷D、能否检出近距离的缺陷

考题 射线照相法是利用射线穿透过物体时,会发生吸收和散射这一特性,通过测量材料中因缺陷存在影响射线的吸收实现探测缺陷的目的。

考题 确定缺陷检出概率最常选用的缺陷类型是裂纹。

考题 锻件检测一般不采用射线照相法的原因是()A、大多数锻件厚度较大,射线难以穿透B、锻件中大多数缺陷的方向不利于射线照相法检出C、大多数锻件晶粒粗大影响射线照相灵敏度D、以上A和B

考题 盲区是超声波探伤系统重要的性能指标之一,因为它关系到()。A、检出平行于超声波束的缺陷B、检出位于锻件中心部位的小缺陷C、检出表面缺陷D、检出近表面的缺陷

考题 采用中子照相法时,其曝光方法是利用荧光增感屏+X射线胶片曝光。

考题 密封铅罐中的水位可用中子照相法测定。

考题 利用照相法进行射线探伤,底片上缺陷的形状和大小与真实缺陷是完全一样的。

考题 采用中子照相法时,下列哪一种曝光方法是正确的?()A、直接用X射线胶片曝光B、利用镉屏和钆屏受中子激发后再使用X射线胶片曝光C、利用铅箔增感屏加X射线胶片曝光D、利用荧光增感屏加X射线胶片曝光

考题 具有良好检出灵敏度的中子一般是指()A、冷中子B、热中子C、超热中子D、快中子

考题 下列关于磁化电流方向与缺陷方向关系叙述正确的是()。A、直接通电磁化时,与电流方向垂直的缺陷最容易检出B、直接通电磁化时,与电流方向平行的缺陷最容易检出C、直接通电磁化时,产生周向磁场任何方向的缺陷均可检出D、直接通电磁化时,近表面的缺陷容易检出

考题 在使用照相法对缺陷迹痕进行照相记录时,下面哪个内容是不重要的?()A、照相日期或检验时间B、照相所用底片的品牌C、缺陷的相关位置D、比例尺

考题 采用中子照相法时,其曝光需要先经过转换屏转换,然后再使用X射线胶片曝光。

考题 在下列问题中,更适于采用中子射线照相检验的是()。A、 厚大钢铸件的裂纹缺陷B、 厚大钢铸件的缩孔缺陷C、 厚大钢铸件的熔剂夹杂物D、 以上都是

考题 直接曝光法和间接曝光法属于中子射线照相法。

考题 采用中子照相法时,其曝光需要先经过转换屏转换,然后()。A、直接在荧光屏显示缺陷图象B、利用荧光增感屏+X射线胶片曝光C、再使用X射线胶片曝光D、以上都不对

考题 现场照相的一般方法有()?A、相向照相法B、多向照相法C、分段连续照相法D、回转连续照相法E、比例照相法

考题 下列技术中适于检验厚度很大物体表面层缺陷的是()。A、中子射线照相B、射线CT技术C、康普顿背散射成像技术D、A、B和C

考题 与射线照相法相比,荧光屏观察法的优点是(),可即时判别,但灵敏度较低,难以将缺陷永久记录保存。

考题 判断题射线照相法是利用射线穿透过物体时,会发生吸收和散射这一特性,通过测量材料中因缺陷存在影响射线的吸收实现探测缺陷的目的。A 对B 错

考题 单选题具有良好检出灵敏度的中子一般是指()A 冷中子B 热中子C 超热中子D 快中子

考题 多选题现场照相的一般方法有()?A相向照相法B多向照相法C分段连续照相法D回转连续照相法E比例照相法

考题 单选题在下列问题中,更适于采用中子射线照相检验的是()。A 厚大钢铸件的裂纹缺陷B 厚大钢铸件的缩孔缺陷C 厚大钢铸件的熔剂夹杂物D 以上都是

考题 单选题适于中子照相法检出的缺陷是()A 厚钢铸件中的裂纹B 厚钢件中的缩孔C 厚钢铸件中的熔剂夹杂D 以上都是

考题 单选题盲区是超声波探伤系统重要的性能指标之一,因为它关系到()。A 检出平行于超声波束的缺陷B 检出位于锻件中心部位的小缺陷C 检出表面缺陷D 检出近表面的缺陷

考题 单选题锻件检测一般不采用射线照相法的原因是()A 大多数锻件厚度较大,射线难以穿透B 锻件中大多数缺陷的方向不利于射线照相法检出C 大多数锻件晶粒粗大影响射线照相灵敏度D 以上A和B

考题 单选题采用中子照相法时,下列哪一种曝光方法是正确的?()A 直接用X射线胶片曝光B 利用镉屏和钆屏受中子激发后再使用X射线胶片曝光C 利用铅箔增感屏加X射线胶片曝光D 利用荧光增感屏加X射线胶片曝光