考题
因变质的校准液引起的误差属于A.偶然误差中的标本处理不当误差B.系统误差中的试剂误差C.系统误差中的方法学误差D.工作曲线制备误差E.偶然误差中的试剂误差
考题
产生系统误差的主要原因有( )。
A、方法误差B、仪器误差C、试剂误差D、主观误差E、偶然误差
考题
不属于系统误差的为A．方法误差B．操作误差C．试剂误差D．仪器误差E．偶然误差
考题
重量法测SiO2时,试液中硅酸沉淀不完全,属于 : ( 1 )
A.方法误差;B.试剂误差;C.仪器误差;D.偶然误差
考题
滴定终点与化学计量点不一致,会产生 :()
A.系统误差;B.试剂误差;C.仪器误差;D.偶然误差
考题
蒸馏水中含有杂质在测量中属于（）误差。A.仪器误差B.方法误差C.试剂误差D.主观误差
考题
分析中做空白试验的目的是（）A.提高精密度，消除系统误差B.提高精密度，消除偶然误差C.提高准确度，消除过失误差D.提高准确度，消除系统误差
考题
平行试验是为了消除()。
A、偶然误差;B、仪器和试剂误差;C、方法误差;D、操作误差。
考题
减免偶然误差，应A．减少仪器误差B．多次测量，求平均值C．空白试验D．对照试验E．减少方法误差
考题
由于试剂不纯引起的误差是( )。A.偶然误差B.系统误差C.过失误差D.或然误差
考题
试剂中含有微量组分会引起( )。A.方法误差B.偶然误差C.过失误差D.试剂误差
考题
对照实验是检验（）的有效方法。A.偶然误差B.仪器试剂是否合格C.系统误差D.回收率好坏
考题
可通过多次重复试验，计算平均值来消除A．系统误差B．偶然误差C．试剂误差D．仪器误差E．操作误差
考题
测量误差来源有三大类，包括（ ）。A．观测误差、仪器误差、外界环境的影响
B．偶然误差、观测误差、外界环境的影响
C．偶然误差、系统误差、观测误差
D．仪器误差、观测误差、系统误差
考题
分析过程中，由于温度的变化所引入的误差应属于( )A.偶然误差
B.方法误差
C.试剂误差
D.仪器误差
E.系统误差
考题
测定碳、氢元素时要进行空白试验，是为了消除（）。A、偶然误差B、仪器和试剂的误差C、操作误差D、绝对误差
考题
空白试验可消除（）。A、偶然误差B、仪器误差C、主观误差D、试剂误差
考题
空白实验可消除（）A、方法误差B、仪器误差C、试剂误差D、操作误差
考题
下列属于偶然误差的是（）。A、方法误差B、仪器误差C、试剂误差D、湿度误差E、温度误差
考题
试剂误差属于（）。A、偶然误差B、系统误差C、方法误差D、仪器误差
考题
（）在分析操作中是无法避免的。A、系统误差B、偶然误差C、主观误差D、仪器和试剂误差
考题
根据系统误差产生的原因可采取相应的校正方法。进行空白试验是为了校正（）A、方法误差B、仪器误差C、试剂误差D、操作误差
考题
（）不是系统误差.A、偶然误差B、仪器误差C、分析方法误差D、试剂误差
考题
空白试验是为了消除（）A、偶然误差B、仪器和试剂误差C、方法误差D、操作误差
考题
单选题（）不是系统误差.A
偶然误差B
仪器误差C
分析方法误差D
试剂误差
考题
单选题空白试验能减小（）。A
偶然误差B
仪器误差C
方法误差D
操作误差E
试剂误差
考题
单选题空白试验是为了消除（）A
偶然误差B
仪器和试剂误差C
方法误差D
操作误差