考题
用单探头法，要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的探头频率()。A、愈高愈好B、愈低愈好C、不太高的频率D、较寻常为高的频率
考题
如果探测面毛糙，应该采用( )。A、不太高频率的探头B、较高频率的探头C、硬保护膜探头D、大晶片探头
考题
迟到波的产生是由于探头频率太高引起的。（）此题为判断题(对，错)。
考题
基波成像指A、以低频发射的波B、以高频发射的波C、凸阵探头发射的波D、线阵探头发射的波E、发射频率与接受频率相同的波
考题
由于声束扩散原因引起的声衰减，可以克服的方法是A、降低帧频B、提高帧频C、变换探头频率D、声束聚焦E、降低探头频率
考题
由于声束扩散原因引起的声衰减，可以克服的方法是A.降低帧频
B.变换探头频率
C.降低探头频率
D.提高帧频
E.声束聚焦
考题
在锻件直探头探伤时可能定不准近侧面缺陷的位置，其原因是（）A、侧面反射波带来干涉B、探头太大，无法移至边缘C、频率太高D、以上都不是
考题
由于机械波是由机械振动产生的，所以波动频率等于振动频率。
考题
在锻件直探头探伤时可能定不准靠近侧壁的缺陷的位置，其原因是（）。A、探头太大，无法移至边缘B、侧壁反射波发生干涉C、频率太高D、以上都不是
考题
如果探测面毛糙，因该采用（）A、不太高频率的探头B、较高频率的探头C、硬保护膜探头D、上述三种均无需考虑
考题
直探头从端面对长条形工件探伤时，容易产生（）。A、三角反射波B、61°反射波C、轮廓回波D、迟到波
考题
在钢锻件探伤中，脉冲重复频率太高是产生幻象波的重要原因之一
考题
检测晶粒粗大的材料，应使用（）。A、高频率的探头B、底频率的探头C、双晶探头D、表面波探头
考题
直探头从端部探测细棒状工件时，在底波后面出现的迟到波是由于声束射到工件侧面产生（）所致。A、窄脉冲B、衰减C、波型转换D、粗晶
考题
在超声波探伤中，产生迟到信号的原因一是由于波的传播方向改变使声程增加，二是由于（）而使声速变慢。
考题
形成迟到波的原因是由于波的传播方向改变而增加声程所引起的。
考题
填空题在超声波探伤中，产生迟到信号的原因一是由于波的传播方向改变使声程增加，二是由于（）而使声速变慢。
考题
问答题什么是迟到波？迟到波是怎样产生的？迟到波有何特点？
考题
单选题检测晶粒粗大的材料，应使用（）。A
高频率的探头B
底频率的探头C
双晶探头D
表面波探头
考题
判断题形成迟到波的原因是由于波的传播方向改变而增加声程所引起的。A
对B
错
考题
判断题迟到波的产生是由于探头频率太高引起的。A
对B
错
考题
单选题在锻件直探头探伤时可能定不准近侧面缺陷的位置，其原因是：（）A
侧面反射波带来干涉B
探头太大，无法移至边缘C
频率太高D
以上都不是
考题
单选题如果探测面毛糙，因该采用（）A
不太高频率的探头B
较高频率的探头C
硬保护膜探头D
上述三种均无需考虑
考题
单选题如果探测面毛糙，应该采用（）。A
不太高频率的探头B
较高频率的探头C
硬保护膜探头D
大晶片探头
考题
单选题用直探头从端部探测直径为d的细棒状工件时，在底波后面出现的迟到波是由于声束射到工件侧面产生波型变换所致，其迟到波间距对于钢材为（）dA
0.15B
0.36C
0.76D
0.9
考题
单选题由于声束扩散原因引起的声衰减，可以使用（ ）方法克服。A
降低帧频B
增加帧频C
增加探头频率D
声束聚焦E
降低探头频率
考题
单选题在锻件直探头探伤时可能定不准靠近侧壁的缺陷的位置，其原因是（）。A
探头太大，无法移至边缘B
侧壁反射波发生干涉C
频率太高D
以上都不是
