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修磨探头斜楔块底面，可以变探头K值。

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考题 CSK—1A试块主要用于斜探头距离—幅度特性的测量和斜探头K值的测试。（）此题为判断题(对，错)。
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考题 CSK一1A试块主要用于斜探头距离一幅度特性的测量和斜探头K值的测试。()
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考题 国产斜探头多以K值标称,它等于斜探头在钢中的()。
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考题 横波探头在检测过程中，斜楔将会磨损。以下说法错误的是（）A、探头磨损会使入射点发生变化B、探头磨损可能导致探头K值的增大C、探头磨损可能导致仪器的水平线性的变化D、探头磨损可能导致探头K值的减小
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考题 焊接接头超声波检测用斜探头，当楔块底面后部磨损较大时，其折射角将变大。
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考题 利用CSK－ⅠA标准试块，在斜探头K值测量中，已知斜探头前沿为12mm ， 将斜探头前沿对准ф50mm孔在显示屏呈现回波最高幅度时，测得斜探头前沿至CSK－ⅠA标准试块端部距离为83mm，则斜探头K值为（）。 A、 1.2B、 2C、 1.86D、 以上都不对
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考题 CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A、 直探头的的远场分辨力B、 斜探头的K值C、 斜探头的入射点D、 斜探头的声束偏斜角
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考题 焊缝检测所用的斜探头，当楔块底面前部磨损较大时，其K值将变小。
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考题 探头的选择包括探头的型式、频率 、晶片尺寸和斜探头K值等
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考题 焊缝探伤所用斜探头，当楔块底面前部磨损较大时，其K值将变大。
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考题 CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨率D、以上全部
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考题 斜探头楔块底面磨损时，探头的（）参数会变化。A、频率和芯片厚度B、入射角和入射点C、芯片厚度和发射脉冲D、试样中的波长芯片直径
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考题 斜探头楔块前部和上部的消声槽可以消除超声波。
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考题 客车当横波斜探头和小角度纵波探头的折射角误差超过规定值时，需（）。A、修磨探头B、更换探头C、以上都对D、报废
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考题 CSK-1A试块主要用于斜探头距离一幅度特性的测量和斜探头K值的测试。
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考题 某探头的种类标识为K，它的种类是用K值表示的（）A、直探头B、斜探头C、分割探头D、水浸探头
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考题 使探头不与钢轨直接接触，保护探头不磨损延长探头使用寿命的部件（）。A、阻尼块B、延迟块C、斜楔块D、保护膜
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考题 双斜探头法探测焊缝时，K型排列方式可以得到底面回波。
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考题 单选题横波探头在检测过程中，斜楔将会磨损。以下说法错误的是（）A 探头磨损会使入射点发生变化B 探头磨损可能导致探头K值的增大C 探头磨损可能导致仪器的水平线性的变化D 探头磨损可能导致探头K值的减小
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考题 判断题修磨探头斜楔块底面，可以变探头K值。A 对B 错
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考题 单选题客车当横波斜探头和小角度纵波探头的折射角误差超过规定值时，需（）。A 修磨探头B 更换探头C 以上都对D 报废
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考题 单选题斜探头楔块底面磨损时，探头的（）参数会变化。A 频率和芯片厚度B 入射角和入射点C 芯片厚度和发射脉冲D 试样中的波长芯片直径
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考题 判断题CSK—1A试块主要用于斜探头距离—幅度特性的测量和斜探头K值的测试。A 对B 错
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考题 判断题焊缝检测所用的斜探头，当楔块底面前部磨损较大时，其K值将变小。A 对B 错
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考题 判断题焊缝探伤所用斜探头，当楔块底面前部磨损较大时，其K值将变小。A 对B 错
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考题 单选题利用CSK－ⅠA标准试块，在斜探头K值测量中，已知斜探头前沿为12mm ， 将斜探头前沿对准ф50mm孔在显示屏呈现回波最高幅度时，测得斜探头前沿至CSK－ⅠA标准试块端部距离为83mm，则斜探头K值为（）。A  1.2B  2C  1.86D  以上都不对
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