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ZPW-2000A无绝缘轨道电路调整状态下在衰耗器测试:轨出2电压大于或等于()mV。

  • A、100
  • B、500
  • C、800
  • D、1000

参考答案

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考题 ZPW-2000A型无绝缘轨道电路主轨出、小轨出电压在()背面底座调整相应万可端子封线即可。 A.衰耗器B.发送器C.接收器D.模拟网络

考题 ZPW-2000A型无绝缘轨道电路,在衰耗盒上的“轨出2”测试孔,测出的值为()电压。 A.本区段主轨输出B.本区段小轨输出C.前方相邻区段小轨输出D.后方相邻区段小轨输出

考题 ZPW-2000A型无绝缘轨道电路主轨分路残压测试:室外用0.15Ω标准分路线在主轨道任意一点轨面分路,室内用移频表在该区段衰耗器“()”塞孔测得。 A.轨入B.轨出1C.功出D.轨出2

考题 ZPW-2000A型无绝缘轨道电路衰耗器GJ测试孔用来测试主轨发送电压。() 此题为判断题(对,错)。

考题 ZPW-2000A无绝缘轨道电路衰耗盒的作用是()。A、对主轨道电路轨出1电压的调整B、对调谐区小轨道电路轨出2电压的调整C、发送功出电压和轨道继电器电压等测试条件D、给出发送器、接收器故障报警及轨道状态指示灯

考题 ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时,测试接收盒输入电压,其测试位置为()。A、衰耗盒轨入测试孔B、衰耗盒轨出1测试孔C、衰耗盒轨出2测试孔D、衰耗盒GJ测试孔

考题 ZPW-2000A型无绝缘移频自动闭塞轨道电路在调整状态时,“轨出2”电压不小于100mv。()

考题 小轨电压测试:用移频仪选择与该区段小轨相同频率档,再选电压档,轨道电路处于调整状态下,在衰耗盒“()”塞孔上测得。A、轨入B、轨出1C、功出D、轨出2

考题 简述ZPW-2000A无绝缘轨道电路衰耗器的作用。

考题 ZPW-2000A轨道电路的小轨道输入电压就是衰耗盘塞孔上“轨出2”上的电压。

考题 ZPW-2000A型无绝缘移频轨道电路,在调整状态下,衰耗盘小轨轨入电压≥()mV。A、100B、63C、42D、130

考题 ZPW-2000A无绝缘轨道电路在调整状态时,“轨出2”电压应在()为合格。A、80mVB、90mVC、100mVD、110mV

考题 ZPW-2000A轨道电路发送、接收电源电压测试:用移频综合测试仪(简称移频仪)直流电压档,在衰耗盒()“塞孔上测得。A、发送电源”、“接收电源”B、轨入C、轨出1D、轨出2

考题 多特征脉冲轨道电路衰耗器正面有衰耗入、轨入、轨出、GJ(Z)、GJ(B)、GJ六组测试塞孔和一个()指示灯。

考题 ZPW-2000A型无绝缘移频轨道电路衰耗盘小轨道电路输入电路()调整用A11~A23端子。

考题 “维规”规定ZPW-2000A型无绝缘轨道电路在调整状态时,“轨出1”电压应不小于多少?

考题 单选题ZPW-2000A无绝缘轨道电路衰耗器测试轨入电压,主轨道电压符合区段调整表指标:轨出l电压大于或等于()mV。A 240B 110C 74D 36

考题 单选题ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时,测试小轨道输出电压,其测试位置为()。A 衰耗盒轨出1测试孔B 衰耗盒轨出2测试孔C 衰耗盒GJ(Z)测试孔D 衰耗盒GJ(B)测试孔

考题 单选题ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时,测试接收盒输入电压,其测试位置为()。A 衰耗盒轨入测试孔B 衰耗盒轨出1测试孔C 衰耗盒轨出2测试孔D 衰耗盒GJ测试孔

考题 单选题ZPW-2000A无绝缘轨道电路在调整状态时,“轨出2”电压应不小于()A 80mVB 90mVC 100mVD 110mV

考题 单选题ZPW-2000A型无绝缘移频轨道电路,在调整状态下,衰耗盘小轨轨入电压≥()mV。A 100B 63C 42D 130

考题 问答题简述ZPW-2000A无绝缘轨道电路衰耗器的作用。

考题 单选题ZPW-2000A无绝缘轨道电路调整状态下在衰耗器测试:轨出2电压大于或等于()mV。A 100B 500C 800D 1000

考题 单选题小轨电压测试:用移频仪选择与该区段小轨相同频率档,再选电压档,轨道电路处于调整状态下,在衰耗盒“()”塞孔上测得。A 轨入B 轨出1C 功出D 轨出2

考题 单选题ZPW-2000A无绝缘轨道电路在调整状态,“轨出2”电压不得低于()mV。A 100B 150C 240D 330

考题 多选题ZPW-2000A无绝缘轨道电路衰耗盒的作用是()。A对主轨道电路轨出1电压的调整B对调谐区小轨道电路轨出2电压的调整C发送功出电压和轨道继电器电压等测试条件D给出发送器、接收器故障报警及轨道状态指示灯

考题 单选题ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时,测试主机轨道继电器电压,其测试位置为()。A 衰耗盒轨出1测试孔B 衰耗盒轨出2测试孔C 衰耗盒GJ(Z)测试孔D 衰耗盒GJ(B)测试孔