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判断题
同样厚度的两个金属试件,一个可测得五、六次底面回波,另一个只测得二次底面回波,则后者的声阻抗大。
A

B


参考答案

参考解析
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考题 在水浸法检验中,探头与试件间的水距( )。A、应尽可能的小B、使二次界面波在底面回波之前C、使二次界面波在底面回波之后D、应尽可能的大

考题 直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件,若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5DB,两者的材质双声程衰减均为0.004DB/mm,当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时,后者的底面回波应为示波屏满幅的()A.5% B.10% C.20% D.40%

考题 斜入射横波法探测平板形试块时,探测回波中()A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波,底面回波消失D、缺陷回波和底面回波同时存在

考题 钢板厚为30mm,用水浸法探伤,当水层厚度为15mm时,则第三次底面回波显示于()A、二次界面回波之前B、二次界面回波之后C、一次界面回波之前D、不一定

考题 在水浸检验中,探头与试件水距()A、应尽可能减小B、使二次界面波在底面回波之前C、使二次界面波在底面回波之后D、应尽可能的大

考题 直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件,若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5dB,两者的材质双声程衰减均为0.004dB/mm,当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时,后者的底面回波应为示波屏满幅的()A、5%B、10%C、20%D、40%

考题 纵波垂直探伤时,当试件的二次底面回波显示在时基限标度5上时,则一次底面回波和三次底面回波应显示于时基限标度()上。A、2.5和7.5B、3和7C、2和8

考题 同样厚度的两个金属试件,一个可测得五、六次底面回波,另一个只测得二次底面回波,则后者的声阻抗大。

考题 斜入射横波法探测平板形试件时,探测图形中()。A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波时底面回波消失D、有大型缺陷回波时有底面回波

考题 用底面多次回波法探测板材,第四次底面回波显示于4.5格处,每格代表10mm,则该板厚度()。

考题 对水浸法探伤,水层厚度的调整,一般应使界面二次回波落在试件一次底面回波之()。A、前B、后C、中D、始波后

考题 同样厚度的两个金属试件,一个可测得五六次底面回波,另一个只测得二次底面回波,则后者的()A、晶粒粗大B、声阻抗大C、晶粒细小均匀

考题 直径40mm、长100mm的钢试件,用尺寸相当的直探头在端面探测时,则迟到回波至底面回波的间距是()。

考题 厚度为600mm的铝试件,用直探头测得一回波的传播时间为165μs,若纵波在铝中声速为6300m/s则此回波是()A、底面回波B、底面二次回波C、缺陷回波D、迟到回波

考题 底面多次回波法探伤主要用于()A、厚度较小的板材B、形状复杂的试件C、大厚度试件

考题 单选题斜入射横波法探测平板形试件时,探测图形中()。A 没有底面回波B 有底面回波C 有大型缺陷回波时底面回波消失D 有大型缺陷回波时有底面回波

考题 单选题在水浸检验中,探头与试件水距()A 应尽可能减小B 使二次界面波在底面回波之前C 使二次界面波在底面回波之后D 应尽可能的大

考题 单选题底面多次回波法探伤主要用于()A 厚度较小的板材B 形状复杂的试件C 大厚度试件

考题 单选题钢板厚为30mm,用水浸法探伤,当水层厚度为15mm时,则第三次底面回波显示于()A 二次界面回波之前B 二次界面回波之后C 一次界面回波之前D 不一定

考题 单选题直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件,若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5dB,两者的材质双声程衰减均为0.004dB/mm,当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时,后者的底面回波应为示波屏满幅的()A 5%B 10%C 20%D 40%

考题 单选题对水浸法探伤,水层厚度的调整,一般应使界面二次回波落在试件一次底面回波之()。A 前B 后C 中D 始波后

考题 填空题用底面多次回波法探测板材,第四次底面回波显示于4.5格处,每格代表10mm,则该板厚度()。

考题 单选题同样厚度的两个金属试件,一个可测得五六次底面回波,另一个只测得二次底面回波,则后者的()A 晶粒粗大B 声阻抗大C 晶粒细小均匀

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