考题
超声波探伤中，没有探测盲区的探伤方法是( )。A、反射法B、穿透法C、底面多次回波法D、底面一次回波反射法法
考题
直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行会产生（）。A、底面回波降低或消失B、底面回波不降低C、底面回波变窄D、以上都不对
考题
空心圆柱体在内孔探伤时，曲底面的回波声压比同声程大平底面低。
考题
斜入射横波法探测平板形试块时，探测回波中（）A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波，底面回波消失D、缺陷回波和底面回波同时存在
考题
在用直探头进行水浸法探伤时，探头至探测面的水层距离应调节在使一次与二次界面回波之间至少出现一次（）A、缺陷回波B、迟到回波C、底面回波D、侧面回波
考题
在锻件探伤中当使用底面多次回波计算衰减系数时应注意一次底面回波声程应：（）A、非扩散区B、大于近场区C、大于3倍近场区D、无甚要求
考题
什么是底面多次回波法？该法主要用于哪些场合？
考题
垂直探伤时，工件底面倾斜能引起局部或整个地丧失底面回波。
考题
穿透探伤时如发现底面回波与始波间有可疑回波出现，应进行裂纹分析。
考题
对于厚度不大，表面不很光滑的铸件，可采用（）检查，并观察一次底回波与二次底回波之间是否有缺陷回波。A、纵波法B、横波法C、多次回波法D、分层探伤法
考题
（）是指在斜射探伤中，超声束不经工件底面反射而直接对准缺陷的方法。A、 一次波法B、 二次波法C、 底面回波法D、 以上都不是
考题
斜入射横波法探测平板形试件时，探测图形中（）。A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波时底面回波消失D、有大型缺陷回波时有底面回波
考题
用底面多次回波法探测板材，第四次底面回波显示于4．5格处，每格代表10mm，则该板厚度（）。
考题
描述探伤仪示波屏上由于试件的结构组织或小缺陷或上述两者所引起的大量低幅信号的术语是（）。A、底面多次回波B、探测面多次回波C、杂波D、共振信号
考题
盲区最小的探伤方法是（）A、缺陷回波法B、底面多次回波法C、透过波高度法D、表面波法
考题
用多次回波法探测复合材料，假如超声波自材质衰减小的材料透入，当粘合面粘结良好时，底面回波次数很。
考题
底面多次回波法探伤主要用于（）A、厚度较小的板材B、形状复杂的试件C、大厚度试件
考题
问答题什么是底面多次回波法？该法主要用于哪些场合？
考题
单选题直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行会产生（）。A
底面回波降低或消失B
底面回波不降低C
底面回波变窄D
以上都不对
考题
单选题超声波探伤中，没有探测盲区的探伤方法是（）A
反射法B
穿透法C
底面多次回波法D
底面一次回波反射法法
考题
单选题在锻件探伤中当使用底面多次回波计算衰减系数时应注意一次底面回波声程应：（）A
非扩散区B
大于近场区C
大于3倍近场区D
无甚要求
考题
填空题用底面多次回波法探测板材，第四次底面回波显示于4．5格处，每格代表10mm，则该板厚度（）。
考题
单选题盲区最小的探伤方法是（）A
缺陷回波法B
底面多次回波法C
透过波高度法D
表面波法
考题
单选题描述探伤仪示波屏上由于试件的结构组织或小缺陷或上述两者所引起的大量低幅信号的术语是（）。A
底面多次回波B
探测面多次回波C
杂波D
共振信号
考题
单选题斜入射横波法探测平板形试块时，探测回波中（）A
没有底面回波B
有底面回波C
有大型缺陷回波，底面回波消失D
缺陷回波和底面回波同时存在
考题
单选题（）是指在斜射探伤中，超声束不经工件底面反射而直接对准缺陷的方法。A
一次波法B
二次波法C
底面回波法D
以上都不是
