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判断题
在进行测量前，必须擦净工件的被测表面及量具的测量表面。
A

对

B

错

参考答案

参考解析
解析： 暂无解析
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考题 测量前,应将量具的测量面和工件被测量面擦净,以免脏物影响测量精度和加快量具磨损。() 此题为判断题(对，错)。
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考题 有关塞尺使用方法的叙述,其中()的说法是不正确的。 A、先清净被测工件表面间隙的污垢B、擦净表面的油污，预测首选合适尺片C、测量时不允许数片重叠同时插入D、不允许测量温度较高的工件
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考题 塞尺又称为分测微片,它是一种用来测量()的量具。 A、工件表面精度B、工件表面水平度C、两工件表面水平度D、两工件表面配合间隙
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考题 下列有关塞尺使用方法的叙述中,其中()是不正确的。 A、先清净被测工件表面间隙的污垢B、擦净表面的油污，预测首选合适尺片C、测量时不允许数片重叠同时插入D、不允许测量温度较高的工件
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考题 测长机它可()对被测工件长度作()测量,也可在量块或其它标准量具的配合下作()测量。
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考题 下列有关千分尺使用方法的叙述中，( )是不正确的。A、先擦净测量面，检查零位B、擦净被测工件测量(表)面C、当千分尺测量面与被测工件表面一接触就转动刺轮D、读数时，先读外尺刻度再读内尺刻度数
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考题 零件被测表面与量具或量仪测头不接触，表面间不存在测量力的测量方法，称为 。A.相对测量B.间接测量C.非接触测量
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考题 使用量仪测量工件时，测杆的轴线必须垂直被测( )。A.表皮B.表球C.表准D.表面
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考题 使用平面平晶、平行平晶测量前，必须擦净平晶的测量面和被测表面，否则会影响（）的产生，甚至会（）。
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考题 在使用深度千分尺测量前，应清洁底板的测量面和工件的被测量面，并去除毛刺。被测量工件要具有一定的（）。A、表面粗糙度B、表面光洁度C、表面反射率D、没有要求
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考题 测杆轴线与被测工件表面是否垂直，，不会影响测量精度。
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考题 擦净千分尺的测量表面和工件的被测量表面是测量前的必要工作。
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考题 接触测量是零件被测表面与量具量仪的测头接触，表面间存在机械作用的（）。A、作用力B、反作用力C、测量力
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考题 零件被测表面与量具或量仪测头不接触，表面间不存在测量力的测量方法，称为（）。A、激光测量；B、非接触测量；C、间接测量；D、精密测量。
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考题 按工件被测表面和量具测头的接触与否，分为直接测量法和间接测量法。
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考题 下列关于90°角尺说法正确的是（）。A、用来测量工件被测表面相对其垂直基准面的垂直度误差B、用来测量工件基准面相对其垂直被测表面的垂直度误差
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考题 用量具测量工件前，应将量具的测量面和工件（）面擦净。A、加工B、未加工C、测量D、非测量
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考题 采用超声波测厚仪测厚时直接将探头贴于被测工件表面就可以进行测量读数。
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考题 在进行测量前，必须擦净工件的被测表面及量具的测量表面。
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考题 下列有关塞尺使用方法的叙述，其中（）的说法是不正确的。A、先擦净被测工件表面间隙的污垢B、擦净表面的油污，预测首选合适尺片C、测量时不允许数片重叠同时插入D、不允许测量温度较高的工件
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考题 宽尺是测量两工件表面间隙的薄片式量具。（）
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考题 接触测量是测量装置的（）元件（测头）与被测工件表面发生机械接触并有机械作用的测量力。A、敏感B、灵敏C、灵活
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考题 下列有关塞尺使用方法的叙述，其中（）的说法是不正确的。A、先清净被测工件表面间隙的污垢B、擦净表面的油污，预测首选合适尺片C、测量时不允许数片重叠同时插入D、不允许测量温度较高的工件
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考题 填空题使用平面平晶、平行平晶测量前，必须擦净平晶的测量面和被测表面，否则会影响（）的产生，甚至会（）。
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考题 填空题测长机它可（）对被测工件长度作（）测量，也可在量块或其它标准量具的配合下作（）测量。
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考题 单选题下列有关塞尺使用方法的叙述，其中（）的说法是不正确的。A 先擦净被测工件表面间隙的污垢B 擦净表面的油污，预测首选合适尺片C 测量时不允许数片重叠同时插入D 不允许测量温度较高的工件
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考题 单选题下列是有关千分尺使用方法的叙述，其中（）是不正确的。A 先擦净测量面，检查零位B 擦净被测工件测量（表）面C 当千分尺测量面与被测工件表面一接触就转动棘轮D 读数时，先读外尺刻度数，再读内尺刻度数
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