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判断题
总悬浮颗粒物含量过高或雾天采样使滤膜阻力大于10kpa时,不宜采用重量法测定总悬浮颗粒物()
A

B


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考题 根据《环境空气总悬浮颗粒物的测定重量法》(GB/T 15432-1995),大流量采样法采样、进行大气中总悬浮颗粒物样品称重时,如“标准滤膜”称出的重量在原始重量±( )mg范围内,则认为该批样品滤膜称量合格。A.5B.10C.4.5D.2

考题 用重量法测定大气中总悬浮颗粒物的浓度。采样流量为1.2m3/min,连续采样24h,现场气温为15℃,大气压力为98.6kPa,采样前后滤膜增重302mg。大气中总悬浮颗粒物的浓度为(  )。 A.0.19mg/m3 B.0.17mg/m3 C.11mg/m3 D.10mg/m3

考题 用重量法测定大气中总悬浮颗粒物的浓度。采样流量为1.2m3/min,连续采样24h,现场气温为15°C,大气压力为98. 6kPa,采样前后滤膜增重302mg。大气中总悬浮颗粒物浓度为: A. 0.19mg/m3 B. 0.17mg/m3 C. 11mg/m3 D. 10mg/m3

考题 采用重量法测定TSP时,若TSP含量过高或雾天采样使滤膜阻力大于()kPa,本方法不适用。A、10B、30C、50D、70E、100

考题 采用重量法测定TSP含量过高或者雾天采样使滤膜阻力大于()kpa,本方法不适用。A、10B、30C、50D、70

考题 测定大气中总悬浮颗粒物滤膜重量的天平,对于大流量采样滤膜,称量范围≥10g,感量1mg,再现性≤()mg。A、1B、2C、3D、4

考题 根据《环境空气总悬浮颗粒物的测定重量法》(GB/T15432-1995),大流量采样法采样、进行大气中总悬浮颗粒物样品称重时,如“标准滤膜”称出的重量在原始重量±()mg范围内,则认为该批样品滤膜称量合格。

考题 测定大气总悬浮颗粒物时,若标准滤膜称出的重量在原始重量的()范围内,则认为该批滤样品滤膜称量合格。

考题 采集大气总悬浮颗粒物时,通常用()滤膜,同时应注意滤膜的毛面向下。

考题 重量法测定大气中总悬浮颗粒物时,如何获得标准滤膜?

考题 简述总悬浮颗粒物(TSP)的测定原理(滤膜捕集)。

考题 简述用重量法测定空气中总悬浮颗粒物(TSP)和可吸入颗粒物(PM10)的原理。

考题 重量法测定空气中总悬浮颗粒物时,对于每批滤膜,需要从中抽取20%滤膜,用X光看片机进行检查,以查看滤膜有无针孔或缺陷。

考题 重量法测定大气中总悬浮颗粒物时,如何获得“标准滤膜”?

考题 重量法测定空气中总悬浮颗粒物要经常检查采样头是否漏气。当滤膜安放正确,采样后滤膜上颗粒物与四周白边之间出现界线模糊时,应更换()。

考题 电感耦合等离子体原子发射光谱法测定环境空气总悬浮颗粒物中金属和非金属时,先用()滤膜()或滤膜采集颗粒物样品,样品经过消解处理后进行测定。

考题 测定空气中总悬浮颗粒物的重量法,不适用于TSP含量过高或雾天采样使滤膜阻力大于15kPa的情况。

考题 填空题测定大气总悬浮颗粒物时,若标准滤膜称出的重量在原始重量的()范围内,则认为该批滤样品滤膜称量合格。

考题 填空题根据《环境空气总悬浮颗粒物的测定重量法》(GB/T15432-1995),大流量采样法采样、进行大气中总悬浮颗粒物样品称重时,如“标准滤膜”称出的重量在原始重量±()mg范围内,则认为该批样品滤膜称量合格。

考题 填空题重量法测定空气中总悬浮颗粒物要经常检查采样头是否漏气。当滤膜安放正确,采样后滤膜上颗粒物与四周白边之间出现界线模糊时,应更换()。

考题 单选题采用重量法测定TSP含量过高或者雾天采样使滤膜阻力大于()kpa,本方法不适用。A 10B 30C 50D 70

考题 问答题重量法测定大气中总悬浮颗粒物时,如何获得“标准滤膜”?

考题 判断题测定空气中总悬浮颗粒物的重量法,不适用于TSP含量过高或雾天采样使滤膜阻力大于15kPa的情况。A 对B 错

考题 问答题重量法测定大气中总悬浮颗粒物时,如何获得标准滤膜?

考题 填空题采集大气总悬浮颗粒物时,通常用()滤膜,同时应注意滤膜的毛面向下。

考题 判断题重量法测定空气中总悬浮颗粒物时,对于每批滤膜,需要从中抽取20%滤膜,用X光看片机进行检查,以查看滤膜有无针孔或缺陷。A 对B 错

考题 填空题电感耦合等离子体原子发射光谱法测定环境空气总悬浮颗粒物中金属和非金属时,先用()滤膜()或滤膜采集颗粒物样品,样品经过消解处理后进行测定。